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薄膜热物性测试仪
型号：HCX09A
该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时，同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同，因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。根据物体表面温度按余弦（或正弦）规律变化时的瞬态实验模型。该仪器采用温度波法来测试薄膜材料的热物性参数，由于薄膜是有限厚的一维模型。在这一状态下，当温度振荡频率达到一定值后，利用样品上、下表面温度的相位差计算导温系数或导热系数。仪器专用于研究薄膜材料热物性特性。
主要技术参数：
1．导热系数范围：0.05～20w/mk
2．仪器实现数字化测温，精度优于0.2级。
3．测量结果，准确度±3%
4．计量加热功率可调节±1%。
5.试样尺寸要求：圆片或方片100*100*（0.15）mm.
6.测试温度：室温。
7.配接计算机实现全自动测试分析。
仪器配置：测试主机一台，
测试软件一套，
计算机一套用户自备，
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