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应力双折射又称光弹性效应。透明的各向同性的介质在压力或张力的作用下，折射率特性会发生改变，从而显示出光学上的各向异性。若介质本来就是各向异性晶体，则外力作用会使它产生一个附加的双折射。塞贝克在1813年和布儒斯特在1816年Z早研究这一现象。对物体旅以压力或张力，它就显示出负单轴晶体或正单轴晶体的特性，有效光轴在应力方向上，并且所引起的双折射与应力成正比。若应力在晶体上是不均匀的，在各处的双折射就不一致，使通过它的光波上不同点产生不同的位相差。利用应力双折射效应，可以检验光学材料的内应力，观察各种力学结构的应力分布。
利用应力双折射研究应力分布的仪器称为光测弹性仪，这种方法目前已发展成为一门专门的学科。称为光测弹性学，它广泛应用于材料力学的测量中。对机械结构中一些形状复杂的部件。承受不同负荷时的应力分布是很复杂的。我们可以用透明材料制成相应的模型，并按实际使用时的受力情况对模型施以机械力，利用偏振光干涉装置，就可分析应力分布。利用全息光测弹性技术，可观察和分析样品的乏维应力分布
理想的光学玻璃是各向同性的，但在退火过程中由于玻璃内外温度不一致，或者退火炉内各处温度不一致等都会产生内应力。光学玻璃内应力的存在，破坏了各向同性，产生双折射现象，即内部应力的分布现象，现在利用测量双折射现象来改进光学玻璃的生产工艺，以及用来对光学玻璃的质量控制，成为世界主流光学玻璃厂商的手段。
以下为大家介绍一款市场主流的双折射测量设备，其测量原理就是利用光弹性效应，通过独特的光子晶体技术，在极端的时间内给出整个样品的双折射测量结果，通过软件的结合，可以Z终呈现给用户直观的样品测量报告。
1，光子晶体
简单的来说就是偏光片的组合阵列，每一个小偏光片的大小是5um×5um，在整个阵列中又分为很多偏光组，每一组由四个不同偏光角度的偏光片组成。
2，偏光影像传感器
将光子晶体和CCD传感器上每一个像素单元一一对应，这样组合的偏光相机，拍摄观测物就可以在极短的时间内的到观测物体的双折射数据。
3，GX的测量
利用独特的偏光影像传感器再结合相对应的软件系统，测量速度可以达到3秒，测量结果2D显示，图像与图表的结合，是使用者更直观的了解观测物的双折射现象。
4，下面我们就对3D手机面板的测量结果进行一个展示。
1)线分析
如上图，在图的左边的样品图中间的位置，取一条线，图的右半部份的折线图表就是表示的这条线上的双折射的变化，折线图下方还有关于这条线上双折射ZdaZ小值，平均值以及误差值的表格。
2)区域分析
可任选一个区域，并对同一个样品的不同区域进行对比。
也可以对不同样品的测试结果的区域进行选取，来比对不同工艺的效果。
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