IM3536日本日置LCR测试仪L2101测试线技术参数
DC，4Hz~8MHz测量频率，今后的标杆产品
●测量频率DC，4Hz~8MHz
●测量时间：Z快1ms
●基本精度：±0.05%rdg
●1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量
●可内部发生DC偏压测量
●从研发到生产线活跃在各种领域中
IM3536日本日置LCR测试仪L2101测试线技术参数
基本参数测量模式LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量）
测量参数
Z,Y,θ,X,G,B,Q,Rdc（直流电阻），Rs(ESR),Rp,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tanδ),σ,ε测量量程100mΩ~100MΩ,10档量程（所有参数由Z规定）显示范围Z:0.00m~9.99999GΩ,Y:0.000n~9.99999GS,θ:±(0.000°~999.999°),Q:±(0.00~9999.99),Rdc:±(0.00m~9.99999GΩ),D:±(0.00000~9.99999),Δ%:±(0.000%~999.999%)等基本精度Z:0.05%rdg.θ:0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ）测量频率4Hz~8MHz(10mHz~100Hz步进)测量信号电平[V模式,CV模式]的[通常模式]
4Hz~1.0000MHz:10mV~5V(Zda50mA)
1.0001MHz~8MHz:10mV~1V(Zda10mA)
[V模式,CV模式]的[低Z高精度模式]
4Hz~1.0000MHz:10mV~1V(Zda100mA)
[CC模式]的[通常模式]
4Hz~1.0000MHz:10μA~50mA(Zda5V)
1.0001MHz~8MHz:10μA~10mA(Zda1V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4Hz~1.0000MHz:10μA~100mA(Zda1V)
[直流电阻测量]:1V固定DC偏压发生范围：DC电压0~2.50V(低Z高精度模式时0~1V)输出阻抗通常模式：100Ω,低Z高精度模式:10Ω显示彩色TFT5.7英寸，触摸屏功能比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路短路补偿、接触检查、面板保存读取功能、存储功能接口EXTI/O(处理器),/USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C,BCD输出电源AC100~240V,50/60Hz,50VAmax体积及重量330W×119H×230Dmm,4.2kg附件电源线×1,使用说明书×1,CD-R（通讯说明书，LCR应用光盘）×1
基本精度0.02%，Z小分辨率1μΩ，Zda测试电流300mA
●可测范围0.000mμΩ(测试电流300mA)~3.5MΩ
●通过保护端口使用的探头并提高测试电流，实现抗干扰测量
●使用比较判断灯(选件)和大音量的判断音，可在生产现场准确判断合格与否
●带适合NPN/PNP的EXTI/O接口，可用于各种自动产线中(-01)
IM3536日本日置LCR测试仪L2101测试线技术参数
基本参数电阻测量量程30mΩ(Zda显示35.000mΩ,分辨率1μΩ)～3MΩ量程(Zda显示3.5000MΩ,分辨率100Ω),9档切换
基本精度:±0.020%rdg.±0.007%f.s.测量电流[30mΩ量程时]DC300mA～[3MΩ量程时]DC500nA开路端口电压ZdaDC5.5V温度测量-10.0～99.9℃,基本精度:±0.50℃(和温度探头Z2001的组合精度)测量速度FAST(50Hz:21ms,60Hz:18ms),MED(101ms),SLOW(401ms)显示更新率无规定功能温度补偿功能，比较器(ABS/REF%)，锁键（OFF/菜单锁定/全部锁定），显示位数选择功能（5位/4位），电源频率设置（AUTO/50Hz/60Hz），缩放，判断音设置，自动保持，平均值，面板保存/读取存储功能无通讯接口[仅RM3544-01]从RS-232C/打印机(RS-232C)/USB中选择任意一种电源AC100～240V,50/60Hz,额定功率:15VA体积及重量215W×80H×166Dmm,[RM3544]0.9kg,[RM3544-01]1.0kg附件[RM3544]电源线×1,夹型测试线L2101×1,使用说明书×1,保险丝×1
[RM3544-01]电源线×1,夹型测试线L2101×1,EXTI/O用公头连接器×1,使用说明书×1,应用光盘×1,USB连接线(A-B型)×1,保险丝×1
仪器网-专业分析仪器服务平台,实验室仪器设备交易网,仪器行业专业网络宣传媒体。
相关热词：
等离子清洗机,反应釜,旋转蒸发仪,高精度温湿度计,露点仪,高效液相色谱仪价格,霉菌试验箱,跌落试验台,离子色谱仪价格,噪声计,高压灭菌器,集菌仪,接地电阻测试仪型号,柱温箱,旋涡混合仪,电热套,场强仪万能材料试验机价格,洗瓶机,匀浆机,耐候试验箱,熔融指数仪,透射电子显微镜。
2005-01-31
