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直接接触式探头：正如名称所表明的那样，直接接触式探头用于与试块直接接触。使用接触式探头的测量通常是Z容易实现的，对于非腐蚀测量的大多数常规测厚应用，它们经常是shou选的方法。
延迟线探头：延迟线探头将一个由塑料、环氧或熔融硅作为一体的柱体作为在激发元件和试块之间的延迟线。使用它们的主要原因是用于薄材料测量，在这种情况，将激发脉冲和底面回波分离开来是非常重要的。延迟块可用作热绝缘体，防止对热敏感的探头晶片直接和热的工件接触;同时延迟线也可为具有形状或仿形状用来改善对尖锐曲面或狭窄面上的声能耦合。 水浸探头：水浸探头使用柱状水或水池来将声能耦合入试块，它们也可用于移动产品的在线或加工过程中的测量;是用于在小半径、凹槽的扫描的测量或耦合优化。 双晶探头：双晶片的探头，或简称为双晶探头，主要用于粗糙、腐蚀表面的测量。它有独立的发射晶片和接收晶片，以一个小角度安装在延迟块上从而将能量聚焦在试块表面下的一个选定的距离上。虽然有时候双晶探头测量不如其他类型探头精确，在腐蚀测量应用中它们通常能提供显著的良好的性能。
