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薄膜测厚仪的性能简介
非接触式测厚仪的测量原理：使用两个激光传感器安装在被测物（纸张）上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度值。 ZTMS08非接触式薄膜测厚仪的出现，大大提高了纸张等片材厚度测量的精度，尤其是在自动化生产线上，得到广泛应用。Z近英国真尚有公司研发出了新的非接触式测量方法ZTMS08测厚仪，可以实现对薄膜的非接触式测量，避免对纸张造成形变引起误差。技术指标： 1.测量范围：（0-25）mm 2.分辨率：0.001mm 3.电源：氧化银电池SR44 4.工作温度：0℃～+40℃ 5.储运温度：-20～+70℃ 6.相对湿度：≤80%符合标准： QB/T1053-98，QB/T451.3-98仪器网-专业分析仪器服务平台,实验室仪器设备交易网,仪器行业专业网络宣传媒体。
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