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纸箱抗压试验机操控系统介绍

深度解析

纸箱抗压试验机操控系统介绍

1.控制板采用自主研发的32位ARM芯片进行测控,优于业界16位DSP处理技术,1/500000的高分辩率,经24bitA/D放大,保证0.25%~1**%F.S.的力值有效测量范围,全程可检;位移分辩率高达0.001mm,全程可检;

2.软件基于VB.net开发,采用Access存储原始数据库,结合SQL语言,便于数据的求取,采用CrystalReport开发的专业分析报告;

3.特配手控盒,具有快上、快下、运行、停止、清零、微上、微下等功能键,可脱离鼠标独立完成试样装卸、横挡移动、运行、停止及校正,操作极为方便;

4.软件为简体中文操作系统,鼠标选择,操作方便;

5.专业电脑控制软体,可作持压、定荷重、定变形、定时间等测试,真正满足耐压、堆码测试;

6.测试速度无级设定,测试完毕自动返回,运行时间自由设定;

7.连续测试一批试样后,鼠标指示数值,曲线可重叠对比,实现一组试样的分析比较;

8.试验数据和曲线随测试过程动态显示,便于观察,极ng准无误;

9.测试完毕后可自动计算并生成专业的分析报告,报告内容可根据客户测试标准进入CrystalReport进行编辑,程序内有大量函数库以备调用;

10.具有曲线遍历功能,可用鼠标找出试验曲线逐点的力值和变形数据,方便实用。曲线也可局部放大、缩小、以及进行相关技术指标的专业分析;

11.试验结果可任意存取(如Excel、PDF、HTML等文件),可对数据曲线进行再分析。


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2004-11-08
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