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SYS-NY01农艺形态测量仪技术参数

用户体验

广泛的用于作物的育种、栽培研究工作,
能够测量作物生长期的茎粗、株高、穗位、
单叶面积、总面积果实大小等,
测量数值直接保存在SD卡中,
并有专业软件形成作物农艺形状调查表。
技术参数:
1、有卡测量:读ID样品卡后自动识别样品;
2、无卡测量:26个英文字母及10个阿拉伯数字自由组合设定样品号;
3、可以测量作物株高、株直径、穗位、
穗长、叶片长、叶片宽、叶片面积等参数;
4、大容量SD卡2G储存,Z多可储存100万组测量数据,
生成TXT文档,并可以转化为Excl表格;
5、测量结束后可自动储存测量的日期、时间和相对应的样品号;
6、可以通过软件生成各种农艺测量报告表格;
7、测量范围:0-3000mm;精度:1mm;误差:1mm;


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2004-09-26
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