离子迁移谱仪发展历史

离子迁移谱仪为按照不同离子在均匀弱电场下漂移速度得到差异来使对离子的分辨得以实现。离子迁移谱仪的主要构成组分一般为数据采集和处理、控制部分、读出电路、收集区、迁移区、离子门、电离部分以及进样部分等。离子迁移谱的简称为IMS。离子迁移谱技术为从20世纪60年代末发展起来的一门检测技术，其离子的分离定性通过离子迁移时间的不同来进行，由于凭借和色谱保留时间类似的概念，其zui先被叫做等离子体色谱。

离子迁移谱仪释义：

离子迁移谱又被称为常压质谱，其是以气相离子在弱电场中的迁移率来对不同种类物质进行检测识别的一种常压分析化学方法为基础。离子迁移谱工作在环境气压条件下。其对于如du品、bao炸物、化学战剂和大气污染物等一些挥发性有机化合物的痕量探测尤其适合。

离子迁移谱仪发展历史：

在1950年代，开始了zui早对于离子迁移谱的研究。由于其具有较为简单的结构，小巧便携，能够快速灵敏地进行检测，其对于检测挥发物十分适用，其能够非常成熟地应用在安检、化学武器、bao炸物与du品检测、在线检测等领域。又由于离子迁移速率和飞行时间有着类似的概念。

20世纪50至60年代，由乔治亚理工学院的厄尔·W·麦克丹尼尔zui早发展起来离子迁移谱的概念。在当时，他使用低电场漂移管来对气相离子的迁移率和反应进行研究，在以后的几十年里，其整合了磁扇磁场质谱仪和自己研发的这项新技术。在同一时期，他研发的这项新技术也得到了其他人通过其他方式的应用。

从此往后，各种配置的质谱仪、气相色谱仪以及高效液相色谱仪器中均集成了离子迁移谱单元。离子迁移谱仪作为一种方法具有多种用途，其支持的应用范围及其功持续地得到拓展。