半导体参数测试仪

半导体参数测试仪简介：半导体参数测试仪能完成准静态的电容对电压测试。仪器具有较高的低电流、低电压分辨率和内置准静态CV测量能力，完成晶片的可靠性测试；基于Windows环境的图形数据分析能力，旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常。仪器由四个内置的高分辨率的源/监控单元，两个电压源单元和两个电压监控单元组成，可满足开发新工技术和评价材料。