美国AEP/AEP

美国AEP Technology Inc.公司位于全球的创新圣地加州硅谷。创立于2007年，团对的核心人员有超过20年的表面检测技术设备制造和设计经验。作为公司名誉董事，美国斯坦福大学的电子工程系著名的半导体检测技术专家，前系主任Fabian Pease教授，给予公司发展的最大支持，也让AEP公司独特的多模式技术成为表面形貌检测新技术的领导者。
成立以来AEP公司推出了探针扫描式三维表面形貌仪，“纳米尺度”台阶仪，多模式三维表面轮廓仪等，都成为行业的引领，其核心专利技术保证，至今没有其他公司超越。