KLA D-500 探针式轮廓仪

探针测量技术的一个优点是它是一种直接测量，与材料特性无关。 可调节的触力以及探针的选择都使其可以对各种结构和材料进行精确测量。 通过测量粗糙度和应力，可以对工艺进行量化，确定添加或去除的材料量，以及结构的任何变化。

主要功能

·        台阶高度：几纳米至1200μm

·        低触力：0.03至15mg

·        视频：500万像素高分辨率彩色摄像头

·        梯形失真校正：消除侧视光学系统引起的失真

·        圆弧校正：消除由于探针的弧形运动引起的误差

·        紧凑尺寸：最小占地面积的台式探针式轮廓仪

·        软件：用户友好的软件界面

主要应用

·        台阶高度：2D台阶高度

·        纹理：2D粗糙度和波纹度

·        形式：2D翘曲和形状

·        应力：2D薄膜应力

工业应用

·        大学，研究实验室和研究所

·        半导体和复合半导体

·        SIMS：二次离子质谱

·        LED：发光二极管

·        太阳能

·        MEMS：微电子机械系统

·        汽车

·        医疗设备

·        还有更多：请与我们联系并探讨您的要求