荧光铜纳米胶体的粒径测量

用激光散射法测量具有荧光效应的样品时，样品所激发出的荧光往往会干扰散射光的检测，影响测量结果
纳米颗粒分析仪SZ-100可配置荧光滤光片，从而消除荧光造成的影响 SZ-100 纳米粒度/Zeta电位分析仪