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珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司时间:
2024-08-26行业:
仪器仪表 仪器仪表为了通过 SP-ICP-MS 获得可靠的颗粒分析结果,估算 CeO2 纳米颗粒的颗粒计数浓度检测限非常重要。因此, 为了确定 CeO2 纳米颗粒的方法检出限(MDL),对由一 系列 0.5 mg/L 的 CeO2 纳米颗粒用 0.025 mM 焦磷酸钠 溶液稀释得到的标准品中各种颗粒的浓度(范围在 500 至 256000 NPs/mL)进行了分析。如图 1 所示,测得的 颗粒浓度表明颗粒浓度范围在 0.0078 μg/ L 至 1 μg/L 之 间呈线性趋势。但当颗粒浓度进一步降低至小于 0.0078 μg/L 时,数据偏离了校准曲线。这表明目前确立的 SP-ICP-MS 方法能够精确检测蕞低 1700 NPs /mL 的 CeO2 纳米颗粒,其灵敏度极高。颗粒数浓度检测限取决 于分析时间:可以通过更长的信号采集时间和 / 或更高 的输运效率实现更低的颗粒数浓度检测限。