X射线衍射（XRD）法测定Ni电极材料结构半高宽峰高比及其

通过衍射峰的半高宽和峰高比可以研究Ni电极材料粉末颗粒的微结构特征，本文描述了应用X射线衍射法测定Ni阳电极材料结构计算其衍射峰的半高宽和峰高比求解峰高比时改进测定方法，采用定点测量的方法，减小了在密封式管条件下由于计数小而产生很大的计数统计误差1/ ，使定量更准确从而可以更好地了解Ni电极材料的电极性能，便于建立工艺条件 XD-2/XD-3/XD-6自动X射线粉末衍射仪