解决方案
登录
首页
找仪器
社区
百科
新品
供应商
品牌
应用
资料
仪企号
展会
标准
求购
招中标
FIB-SEM双束电镜应用之Xe等离子快速切割技术
发布:
泰思肯贸易(上海)有限公司
时间:
2021-05-24
行业:
电子/电气/通讯/半导体
半导体
标准:
无
方案优势
Xe等离子FIB能够实现微纳米,甚至毫米级的快速加工。Xe等离子FIB的zui大束流为2μA,另外Xe离子的原子量更大,对纯Si的溅射效率比Ga离子约高30%。虽然Xe离子的溅射效率高,但是由于Xe离子的直径较大,Xe等离子束加工样品时产生的注入效应和损伤要比Ga离子束小。
文件大小:
578.63KB
建议WIFI下载,土豪忽略
相关仪器
捷克泰思肯 TESCAN AMBER 镓离子型双束扫描电镜
捷克泰思肯 TESCAN SOLARIS X 氙等离子源双束FIB系统
您可能感兴趣的解决方案
捕获Microtrac PartAn 3D颗粒图像分析仪
应用
技术
1645
蜂产品
直接固体进样石墨炉原子吸收光谱分析
应用
技术
791
化学试剂/助剂
使用 Agilent 4200 微波
等离子
体原子发射光谱仪直接测定
1051
包装
使用 Agilent 4200 微波
等离子
体原子发射光谱仪直接测定
915
肉制品
Agilent 4200 微波
等离子
体-原子发射光仪对植物组织消解
1096
粮食及加工品
使用 Agilent 7900 电感耦合
等离子
体质谱仪 对纳米材料
1175
文体用品
利用便携式傅立叶变换红外光谱 (FTIR)分析
等离子
体处理
1124
疾控中心
原位红外
技术
研究低温
等离子
体协同丙烯选择性催化还原NOx反应机理
1911
肉制品
电感耦合
等离子
体直角加速时间飞行质谱仪(ICP-oa-TOF-MS
2271
汽车及零部件
选购仪器 上yiqi.com
仪器网络推广
品牌网上传播
长按识别二维码查看信息详情