光谱分析仪器

光谱分析仪常用参数测量方法

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原子发射光谱分析是根据原子所发射的光谱来测定物质的化学组分的。在正常的情况下,原子处于稳定状态,它的能量是最低的,这种状态称为基态。但当原子受到能量(如热能、电能等)的作用时,原子由于与高速运动的气态粒子和电子相互碰撞而获得了能量,使原子中外层的电子从基态跃迁到更高的能级上,处在这种状态的原子称激发态。电子从基态跃迁至激发态所需的能量称为激发电位,当外加的能量足够大时,原子中的电子脱离原子核的束缚力,使原子成为离子,这种过程称为电离。


一、光谱分析仪概述


光谱分析仪是在平时的光通信波分复用产品中较常使用到的仪表,当WDM系统刚出现时,多用它测试信号波长和光信噪比。其主要特点是动态范围大,一般可达70dB;灵敏度好,可达-90dBm;分辨率带宽小,一般小于0.1nm;比较适合于测试光信噪比。另外测量波长范围大,一般在600~1700nm.,但是测试波长精度时却不如多波长计准确。


在光谱的测量、各参考点通路信号光功率、各参考点光信噪比、光放大器各个波长的增益系数和增益平坦度的测试都可以使用光谱分析仪。光谱分析仪现在也集成了WDM的分析软件,可以很方便地把WDM的各个波长的中心频率、功率、光信噪比等参数用菜单的方式显示出来。


二、光谱分析仪常用参数的测试


2.1 光谱谱宽的测量

     谱宽即光谱的带宽,使用光谱分析仪可以测量LD、发光二极管的谱宽。在光谱的谱宽测量时,要特别注意光谱分析仪系统分辨率的选择,即原理上光谱分析仪的分辨率应当小于被测信号谱宽的1/10.,一般推荐设置为至少小于被测信号谱宽的1/5。

     在实际的测量中,为了能够准确测量数据,一般选择分辨率带宽为0.1nm以下。分辨率带宽RES位于SETUP菜单中的第一项,直接输入所要设定的分辨率带宽的大小即可。当选择的分辨率带宽不同时,从光谱分析仪观察到的光谱形状有很大的不同,并且所测量得到的谱宽大小的不同。

  在观察光谱谱宽的同时,也可以通过光谱分析仪读出光谱的中心频率、带宽、峰值功率和边模抑制比等参数。同时可以启动MARKER菜单,进行相应的标识,以方便量取所需要测试的参数值。


  2.2 边模抑制比的测量

  边模抑制比(Side-Mode SuppressionRatio,缩写为SMSR),SMSR表示峰值能级与横模能级之间的能级差值。

  一般测量边模抑制比时,需要配合使用MARKER菜单和ANALYSIS菜单中相应的键。用MARKER菜单对主波峰值和最高的副波峰进行标识,读取两者的峰值功率值。边模抑制比为最高峰与次高峰之间的能级差。可以通过ANALYSIS菜单中相应的子选项计算得到最后的值。


2018-01-29 17:04:33浏览次数:60次
本文来源:http://m.yiqi.com/retiao/detail_155.html
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