弗莱贝格 PIDcon bifacial 台式双面电池PID测试仪

产品介绍：

双面电池问题：        

将电池的后侧改为光盖，被发现使双面PERC电池和模块对后侧的新型PID敏感，即去极化型PID(PID-p)和腐蚀型PID机制(PID-c)。

解决方案：        

为了测试电池的这些类型的PID，我们开发了PIDcon双面体。它是用温度、照明和高电压对完整的电池进行压力测试，它可以在两个方向上进行极化。通过测量照明下的IV曲线，可以确定PID的灵敏度。

应用：        

太阳能电池片PID检测

HIT、Topcon 、PERC、AL-BSF、PERC+、双面PERC、PERT、PERL和IBC太阳能电池的研究、生产和质量控制。

PIDcon bifacial的特点：         

● 符合IEC62804-TS标准

● 易于使用的台式设备

● 能够测量c-Si太阳能电池和微型模块

● 无需气候室

● 无需层压电池

● 测量速度:小时至数天

● 可测量参数:分流电阻、功率损耗、电导率、漏电流、湿度、温度

● 太阳能电池可以在以后通过EL等进行研究

● 基于IP的系统允许远程操作和技术支持从世界任何地方

标准试验条件:        

● 电压:upto1.5kV

● 温度:85°C

● 测试时间:4hours(typical)

● 干燥条件下，不需要水

类型                          受压                                                     恢复
PID-s正面                85°C，+1.5 kV                             85°C，-1.5 kV

PID-p背面             85°C，+1.5 kV，无照明 85°C，        暗储存或光照

PID-c背面                   85°C，+1.5 kV， 照明                    不可恢复

层压      150°C，20min

样品尺寸   210×210mm

适用于 A   PERC,AL-BSF,IBC,PERC+,双面PERC,p型和n型电池 功率要求 110/230 V AC, 50/60 Hz

资质认证   根据ISO9001准则制造，符合CE标准

参考文献： cells  (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. Hähnel, S. Großer, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced  degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163

(2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tröndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic

modules, AIP Conference Proceedings 2147, 090005 (2019).

(3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. Hähnel, S. Großer, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects  at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).

(4)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. Hähnel, S. Großer, M. Turek, C. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells

as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.

(5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Großer, S. Richter, A. Hähnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under  Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.

(6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. Pöblau, S. Großer, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible  PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.

(7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential  Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.

应用实例：

2010年*报道了晶硅太阳能组件在高压影响下的故障。受影响的太阳能电池显示分流电阻度降低。这种效应被称为电位诱导降解（PID）。

到目前为止，PID测试主要在模块上进行。模块制造和气候室测试需要大量的材料、设备和工作费用。

PIDcon是与FraunhoferCSP合作开发的，目的是结合已建立的测试程序的优点：基于模块的PID测试等现实的PID测试条件，以及较低的时间和成本支出。