HORIBA Scientific 荧光寿命测试系统

产品介绍：

DeltaHub——DeltaFlex的关键部件
· 超短的死时间（10ns）：配合高重复频率的激光光源和高速检测器，可实现无损失的光子计数，达到快速采集数据和准确的分析结果。
· 超快寿命测试技术：真正实现了荧光寿命动力学测试，采集时间低至1ms（全 球同类产品中 快），支持1ms-10,000min无间断寿命动态监测。

新型脉冲半导体光源
    DeltaFlex配置新型脉冲半导体光源作为荧光和磷光的激发光源（四大类型，百种可选），即插即用，无需校准，而且终身免维护。
    其中DeltaDiode光源的重复频率可达100MHz，是超快寿命测试的 选择光源，同时可配置用于磷光测定的SpectraLED光源。与氙闪灯相比，SpectraLED具有265-1275nm宽波长的覆盖范围，以及实用方便、测试速度更快和信号无拖尾的优点。

科研级模块化设计
    在DeltaFlex系统上无需更换控制器和检测器，即可实现11个数量级（25ps-1s）范围内的荧光寿命测试。系统采用科研级模块化设计，配合全新的F-Link技术，可自动识别各类部件，软件直接接入、附件即插即用，能够无限满足升级需求。尤其是其中采用了行业优先的寿命拟合软件，没有费用开放数十种主流专业拟合功能，可单独于仪器操作。
    多种光谱仪可选，配合像差校正光栅，覆盖200-1600nm宽光谱范围，完 美实现时间分辨发射谱功能，支持100条发射波长动态连续监测，软件自动获得衰减相关光谱参数。

    荧光寿命技术是科研中强有力的工具，可广阔用于物理、化学、材料、信息、生物和医学等领域。

主要应用：

• FRET(Forster共振能量转移)

• Stern-Volmer猝灭

• 稀土发光

• 时间分辨和磷光各向异性

• 分子互作，蛋白结构变化

• 太阳能材料

• 单线态氧测试

• 光物理

技术参数：

• 基于滤光片或单色仪实现波长选择

• 皮秒超快集成化PPD光子检测模块（标配）

• 可升级NIR检测器（~1700nm）

• 综合分析受命拟合软件，开放数十种拟合功能

• 标准液体样品架，加载温度传感器和搅拌装置

• 大尺寸样品仓，配置高效UV级光学部件

• F-Link即插即用型交互界面

主要特点：

• 超宽寿命测试范围<25ps-1s 

• 超快测试时间（低至1ms），完 美实现动态反应分析

• 超微量样品测试，低至1μL

• 综合分析软件，5指数寿命拟合

• 高稳定性设计，使用维护简单

• 高度自动化，一键测量分析

• 大尺寸样品仓设计，强劲的附件兼容能力

• 高性能荧光、磷光寿命测试功能

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