束蕴仪器(上海)有限公司
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德国布鲁克 三维X射线显微镜(XRM)SKYSCAN 1272 CMOS Edition

产品介绍:

SKYSCAN 1272 CMOS 

凭借Genius模式可自动选择参数。只需单击一下,即可自动优化放大率、能量、过滤、曝光时间和背景校正。

而且,由于能让样品和大尺寸CMOS探测器尽可能地靠近光源,它能大幅地增加实测的信号强度。正是因为这个原因,SKYSCAN 1272 CMOS 的扫描速度比探测器位置固定的常规系统  多可快5倍。


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自动进样器


SKYSCAN 1272 CMOS 可以选择配合一个有16个位置的外置自动进样器,以增加进行质量控制和常规分析时的处理速度。

自动进样器可以容纳不同尺寸的样品,样品直径极限可达96 mm。

可以随时很方便地切换样品,不会中断正在进行的扫描过程。系统可以自动检测新样品,LED可以显示每一次扫描的状态:准备、扫描和完成。


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原位试验台


布鲁克的材料试验台可以进行极限4400 N的压缩试验和极限440 N的拉伸试验。所有试验台都能通过系统的旋转台自动联系到一起,而无需任何外接线缆。通过使用所提供的软件,可以设置预定扫描试验。

布鲁克的加热台和冷却台可以达到极限+80ºC或底线低于环境温度低30ºC的温度。和其它的试验台一样,加热和冷却台也不需要任何额外的连接,系统可以自动地识别不同的试验台。通过使用加热台和冷却台,可在非环境条件下检测样品,从而评估温度对样品微观结构的影响。


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重 点应用

纤维和复合材料

通过将材料组合成复合材料,获得的组件可以拥有更高的强度,同时大大减轻重量。而要想进一步优化组件性能,就必须确保组成成分的方向能被优化。 常用的组分之一是纤维,有混凝土中的钢筋,电子元件中的玻璃纤维,还有航空材料中的碳纳米管。XRM可用于检测纤维和复合材料,而无需进行横切,从而确保样品状态不会在制备样品的过程中受到影响。

     ·嵌入对象的方向

     ·层厚、纤维尺寸和间隔的定量分析

     ·采用原位样品台检测温度和物理性质

药物

新药开发是个费时费钱的过程。,XRM可以在产品配方阶段即时提供产品内部结构,加快新药上市。

     ·确定片剂的压实密度

     ·测量包衣厚度均匀性

     ·评估API分布

     ·检测被压实的片剂中由应力导致的微型裂隙

     ·利用原位压缩检测力学性能


泡沫材料


泡沫材料在工业上有广泛的应用。根据泡沫的材质和结构特性,可以用作隔热或隔音材料,也可以用作保护或过滤装置中的减震结构……

XRM可以无损地实现泡沫内部结构的三维可视化。

     ·确定局部结构的厚度

     ·确定结构间隔以实现空隙网络的可视化

     ·通过压缩和拉伸台进行原位力学试验

     ·确定开孔孔隙度和闭孔孔隙度


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电子


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地质


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木材


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食品



技术参数:

特征
参数
优势
X 射线源

40 ~ 100 kV

10 W

< 5 μm 点尺寸,4 W

免维护、全密封的X射线源

通过快速扫描实现质量控制,或4D XRM

X射线探测器

CMOS 探测器

16 Mp (4096 x 4096)

排列精密的探测器可实现最 高分辨率
样品尺寸

最 大直径 75 毫米

最 大高度80 毫米

适用于小-中等尺寸样品

自动进样器

(可选项)

16种样品,直径最 大可达50 mm

8 种样品,直径最 大 可达 96 mm

外置

无人值守,高通量

大小样品随意组合

随时添加/取出样品,不中断扫描过程

尺寸

1160 毫米 x 520 毫米 x  330 毫米(宽x深x高)

重量 150 千克

选配自动进样器

节省空间的、适合每一个实验室的台式系统
电源
100-240V ,50-60Hz,最 大 3A
安装需求最 低,标准电源即能满足要求



SKYSCAN 1272 CMOS 版建立在值得信赖的 SKYSCAN 1272 桌面 X 射线显微镜平台上,并结合了全新的 X 射线技术,将 XRM 提升到一个新的水平。
先进的 16 兆像素 CMOS X 射线探测器可提供具有优异分辨率的高对比度图像。增大的探测器视野和增强的 X 射线灵敏度可将扫描时间缩短两倍。
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