欢迎来访！D6 Phaser台式衍射仪即将到达上海束蕴仪器

导言

布鲁克作为行业领先的科学仪器制造商，在x射线衍射仪一直处于领头羊地位。

2009年，布鲁克发布了D2 PHASER X射线衍射仪，一经发布便在用户群体中引起强烈反响。

而D6 PHASERX射线衍射仪，即D2 PHASER的升级版，在去年正式推出之时，立马受到了行业内外人员的高度关注。

其作为一款台式X射线衍射仪，不仅大大拓展了衍射仪除粉末衍射以外的分析潜能，还填补了传统台式衍射仪与落地式衍射仪之间的功能性差距。

经过不懈努力，布鲁克D6这台设备实机将于下周一抵达束蕴仪器，将安装在公司旗下伦琴实验室内，并在伦琴“驻扎”一段时间。

欢迎各位客户来访参观讨论、学习交流！

束蕴仪器（上海）有限公司，位于上海市G60科创云廊。束蕴仪器凭借与德国布鲁克（BRUKER）、国际衍射数据中心(ICDD)、德国Freiberg等国际知名实验室分析仪器品牌的战略合作，迅速成为业界知名仪器供应商。成交的客户数量超过500个，销售额1亿+。

伦琴实验室则是束蕴旗下的第三方实验室，是国内一家专业从事X射线相关分析与开发的机构。伦琴实验室致力于更深入的X射线应用和输出专业性更强的解决方案。

针对各类材料完成从晶体结构到电子结构的全面解析，以及从埃到毫米的跨尺度表征。

仪器介绍

众所周知，X射线衍射仪是材料学相关领域基础且不可或缺的分析手段，具备无损、样品制备简单等优势。X射线衍射仪一般主要由X射线光源部分、测角仪、样品台、光路系统、探测器五大部分组成。

Bruker在已有的D2 Phaser的基础上，结合具备优异性能的LYNXEYE系列能量色散阵列探测器的优势，在桌面衍射仪这个平台上大胆的尝试了新的结构和运动逻辑，强势推出了一款跨界的桌面衍射系统——D6 Phaser。

产品亮点总结：

Ⅰ.功率可选的X射线光源

D6 Phaser提供了两种可选的X射线光源功率， 600W/1200W，测试强度可媲美大型落地式机型，满足不同应用需求。

Ⅱ.高精度的测角仪

D6 Phaser保证在刚玉标样全谱范围内（20－140°），任何一个衍射峰的测量误差不超过±0.01°，与大型落地式机型旗鼓相当。

Ⅲ.多功能平台拓展

D6 Phaser同时还可以实现以前只有在大型落地式机型上的多功能测试，如：

◇  薄膜掠入射测试（GID）

◇  薄膜反射率测试（XRR）残余应力测试

◇  织构测试

◇  毛细管透射测试

产品优势

01

从功能性的角度出发，上一代桌面式衍射仪D2 PHASER由于空间大小的限制，只能完成粉末、块体、常规薄膜等样品的分析测试，无法实现更多功能的拓展；

而D6 PHASER完全打破了桌面式衍射仪功能上的限制，如：

①薄膜掠入射（GID）测试：利用平行光路和可以调整样品高度的Z轴样品台的配合；

②应力&织构测试：采用点焦斑和具备Chi和Phi方向运动的样品台的配合；

③原位变温测试：利用原位变温的样品仓来实现；

④毛细管透射：需毛细管样品台和透射光学的配合等，这些应用的拓展将在薄膜材料、金属材料、药物、陶瓷材料等领域实现重要的功能延升，实现桌面式衍射仪的多功能平台。

02

从基本配置选择上，D6 PHASER也提供更多的适用性：

①光管功率：提供了三种选择，用户可根据应用来选择更适用的匹配；

②自动进样装置：D6 PHASER提供的12位的自动进样装置供用户选择，很大程度上节省了人工成本；

③水冷的选择：D6 PHASER除了自身的内部水冷以外，用户亦可选择外接等等，更加追求并支持不同用户不同需求的定制化方案。

03

此外，D6 PHASER也是完 美的秉承了布鲁克的传统优势。

θ/θ扫描方式的高精度测角仪，给您准确的角度位置，为您的物相定性打下基础；同样可搭载LYNXEYE全系的能量色散阵列探测器，相比传统的阵列探测器多了能量分辨的功能，很大程度上免除了噪音和背景对数据的干扰，提升了信噪比和峰背比，为您的全谱拟合、结构精修、无标定量等保驾护航。

应用实例

D6 PHASER二维衍射实现方法D6 PHASER提供了反射几何下的两种二维衍射实现方法，Bragg-2D和Phi-1D扫描方法：

Bragg-2D方法中不需要移动样品，相反地，通过选择较大的入射光路发散度，将样品大面积暴露在X射线束下，并在Δϖ vs. 2Theta空间中可视化展现来自不同晶粒的衍射信号。

Phi-1D方法则需要使用旋转样品台，使用较窄的X射线束照射样品，探测器定位在特定的2Theta峰位置，通过旋转样品同时连续探测器快照拍摄来对晶粒进行成像。相应的X射线衍射仪样品台配置如图1所示。

 图1. D6 PHASER固定样品台(左)用于Bragg2D衍射，旋转样品台(右)用于Bragg2D和Phi-1D二维衍射

例1

图2显示了粗晶粒粉末样品的二维衍射图，包含大量的不连续斑点。在常规的一维粉末衍射测量中，衍射信号将沿着衍射线进行积分，用户不会意识到样品粒度是不均匀的。而现在得益于快速的二维衍射测量，用户认识到在进行定量的一维XRD测量之前，样品应该被更细的粉碎。

图2. DIFFRAC.COMMANDER界面展示粗糖样品的Phi-1D扫描

图像的水平轴对应于Phi旋转，而垂直轴显示探测器快照。数据采集使用D6 PHASER 600W, Co靶，K-beta滤波器，2.5°Soller准直器，可变发散狭缝(恒定开口，0.25 mm)，无空气散射屏。使用LYNXEYE-2探测器进行连续phi扫描，步长0.9度，曝光时间1秒，总扫描时间401秒，探测器达到 2Theta开口4.97°。

例2

第二个例子(图3)展示了小晶粒的优先取向情况。垂直线显示了较宽的强度调制，然而对于完全随机取向的材料来说，强度应该是恒定的。此外，衍射信号具有不同的宽度，表明存在微观应变。对于该测试铝箔，只有通过样品的不同取向测试才能获得更好的平均信号。相对应地，在测量粉末样品时，在样品制备过程中应尽量重新定向晶体使其更加取向随机，或者用较小的接触压力将粉末压实。

图3. DIFFRAC.EVA软件二维展示使用Co特征X射线测量的轧制铝板样品的Phi-1D扫描图谱