便携式大尺寸数显X射线成像系统DeReO WA-P应用
航空、航天、电力、石化工业等的管道和平板的焊缝检测
AI、Fe、Ti、合金、塑料等成形缺陷检测:夹杂、气孔。。。
复合材料 (皱纹、夹杂)的检测;
文物检测和可学实验(博物馆、实验室、综合大学等)
便携式大尺寸数显X射线成像系统DeReO WA-P主要特点
便携
随时随地拍摄数字X射线图像:无论室内还是野外环境都可以简单方便地使用DeReO WA-P。
成像面积
成像面积可选:25x30cm或40x40cm
数字化
数字图像实时显示在电脑屏幕上,易于保存和读取;
高度智能化的Maestro NDT软件,简单易用,界面友好,
图像优化功能强大;
TIFF和JPG格式图像,自动保存原始底片,自动生成拍片报告;
无需胶片等耗材
图像质量
自动快速地平均降噪
WA-P 4040 (200um) 符合ISO 17636-2 标准
Class A:穿透厚度 4 to 12mm Fe
Class B:穿透厚度 大于 12mm Fe;
WA-P 2530 (139um) 符合ISO 17636-2 标准
Class A:穿透厚度 2 to 8mm Fe
Class B:穿透厚度 大于 8mm Fe;
行业最高灵敏度
信噪比和对比度分辨率优于1% (EN462-1)标准
的透视穿透力
可选:各γ射线源灵敏度可调
发射电压量程广
轻质复合材料和厚重工件都可以检测,适用性广。
可以承受最高15 MeV的光子能量
厚度薄,可以轻易在两个物体间放置平板探测器
时效性
即时摄像并快速获得wan美的图像
适配性
除配套本公司产品外也使用其他厂家射线源或γ源
便携式大尺寸数显X射线成像系统DeReO WA-P可选型号和基础信息
型号 技术 成像面积 像素尺寸 灰度等级 外形尺寸(mm) 重量 铅防护
DeReO WA-P 2530 非晶硅/ Gadox 25 x 30 cm 139 μm 16 bit L420 x H372 x W30 7 > 225 kV
DeReO WA-P 4040 非晶硅/ Gadox 40 x 40 cm 200 μm 14 bit L610 x H600 x W30 11 > 160 kV
便携式大尺寸数显X射线成像系统DeReO WA-P探测器软件
功能高度智能化,简单易用;
实时X射线成像,更有视频录制功能;
实时调节GemX的kV,mA和曝光时间等参数;
图像移动、放大、缩小、旋转;水平和垂直翻转,
镜像,图像剪裁。。。
图像直方图 LUT (look-up-table)
射线图像正片和负片转换
实时灰度调节滤镜
实时边缘增强
图像3D浮雕显示
NDT无损检测专用图像处理工具(降噪、频率过滤器。。。)
测量工具 /灰度曲线图
图像文件可添加各种标准和注释
原始图像和经过处理的图像都会被保存
可保存拍摄参数,使重复性的检测变得高效和轻松
工作界面可选择多种语言,包括中文
符合DNT标准 (ISO17636、ASTM E2736、E2737和E2597)
满足Nadcap认证要求
便携式大尺寸数显X射线成像系统DeReO WA-P软件运行环境要求
Type: laptop笔记本
Screen size : high resolution 17" screen 17英寸显示器
Processor: Dual Core 64-bits (integrated graphics) 双核64位处理器或更高配置
3Go DDR and 500GB HDD memory 内存和硬盘容量
Windows 7 (64 bit) or Windows 8 (64 bit) Windows7 或Windows8
便携式大尺寸数显X射线成像系统DeReO WA-P探测器可选配件
无线模块:IP66 carrying case (85 x 71 x 44 cm)
备用电池:铅防护板: 200, 300, 450 kV 射线源
GemX便携式恒电压微焦点X射线机:GemX-160 (14kg) GemX-200 (20 kg)
电池供电或电源供电 YES YES
电压范围:20 - 160 kV 20 - 200 kV
电流范围:0.1 - 2.0 MA 0.1 - 2.0 MA
焦点:0.5 x 0.7 mm 0.5 x 0.7 mm
滤窗:Be or Al Al
穿透能力: Oil (2h of X-ray / day) Oil (3h of X-ray / day)
Up to 25 mm of Fe Up to 35 mm of Fe
全地形360度支架: YES YES
银河晟联(北京)科技有限公司
仪器网(yiqi.com)--仪器行业网络宣传传媒