赛默飞电子显微镜
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赛默飞世尔 Thermo Scientific™ Nexsa G2 表面分析系统

产品介绍：

标准化功能催生强大性能： 

可选的升级：可将任何全自动化集成技术添加到您的分析中。触动按钮即可运行。


快照成像

借助 SnapMap 的光学视图，聚焦于样品特征。光学视图可以帮助您快速定位目标区域，同时生成完全聚焦的 XPS 图像，以进一步定义您的实验。
1.X 射线照射样品上的一个小区域。
2.收集来自这一小区域的光电子并将其聚焦于分析仪
3.随着镜台的移动，不断采集能谱
4.在整个数据采集过程中监测镜台位置，这些位置用来生成 SnapMap 

应用领域

  • 蓄电池

  • 生物表面

  • 催化剂

  • 陶瓷

  • 玻璃涂层

  • 石墨烯

  • 金属 & 氧化物

  • 纳米材料

  • OLED

  • 聚合物

  • 半导体

  • 太阳能电池

  • 薄膜


Thermo Scientific™ Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪（XPS）系统能提供全自动、高通量的表面分析，提供数据以推进研究和开发，或解决生产问题。XPS 与离子散射光谱（ISS）、UV 光电子能谱（UPS）、反射电子能量损失谱（REELS）以及拉曼光谱集成，让您能够开展真正意义上的相关性分析。该系统现包含样品加热和样品加偏压功能选项，拓宽可进行的实验范围。Nexsa G2 表面分析系统发掘了在材料科学、微电子、纳米技术开发和许多其他应用领域取得新进展的潜力。
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