产品介绍：
Thermo Scientific Celestron 传输线脉冲/极快速传输线脉冲 (TLP/VF-TLP) 测试系统可针对标准 TLP 和 VF-TLP 进行配置，以便进行晶片级和/或封装级测试。选配的探针还可用于测定非被测销或非被测焊盘上的信号。Celestron 系统软件是业界极为全面的软件，它利用图形来辅助系统设置和与被测器件 (DUT) 的连接。在测试运行期间，系统可显示记录的 TLP 脉冲电压和电流波形、编制的脉冲 I-V 曲线、泄漏电流测量结果以及 DC I-V 曲线追踪数据。操作员可选择测试电压（应力脉冲）的范围、脉冲极性、漏电及曲线追踪参数。也可在采集数据后选择和修改 TLP 脉冲测量窗口的位置和持续时间。
主要特点
灵活的测试功能
Thermo Scientific Celestron TLP/VF-TLP 测试系统可针对标准 TLP 和 VF-TLP 进行配置，以便进行晶片级和/或封装级测试。选配的探针还可用于测定非被测销或非被测焊盘上的信号。
卓 越的测试控制
操作员可选择测试电压（应力脉冲）的范围、脉冲极性、漏电及曲线追踪参数。也可在采集数据后选择和修改 TLP 脉冲测量窗口的位置和持续时间。
脉冲发生器
高电流 TLP 脉冲发生器。
探测器
可与半自动探测器配合使用。
规格
| 标准 TLP 配置 | 脉冲宽度为 30 至 500 ns | 集成在脉冲发生器盒中，标准 TLP 脉冲宽度为 100 ns 可通过 30 至 500 ns 范围内的线缆更改从外部添加额外的脉冲宽度 可选的计算机控制脉冲宽度，具有 3 个可选脉冲宽度 |
| 可用上升时间 | 标准上升时间为 200 ps 500 ps 至 10 ns 的可选上升时间 通过可选的外部上升时间过滤器控制 包括 2 ns 和 10 ns 外部上升时间过滤器 可选计算机控制上升时间，具有 3 个可选的上升时间 注：TLP 测量需要 500 MHz 或更快的示波器 对于上升时间小于 1 ns 的测量，建议使用 1GHz 或更宽的范围 | |
| 支持所有 TLP 配置 | 25 至 500 ohm 输出阻抗配置的可选更改 支持 ESD 协会 TLP 标准测试方法中描述的所有配置 所有阻抗的晶片级和封装测试 | |
| 标准 TLP/VF-TLP 配置 | 集成系统控制器 | 无需专用计算机 Windows® 操作系统 |
| 集成式产生源/测量仪表单元 | 曲线追踪至 ± 200 V 漏电测量低至 50 pA 基于漏电或具有强制电流的电压或两者的 DUT 故障检测 | |
| 传输线脉冲 (TLP/VF-TLP) | 设计上符合现行 ESD 协会标准测试方法文件 (ANSI/ESD STM 5.5.1-2016) 的相关要求 | |
| 标准 VF-TLP 配置 | 脉冲宽度为 1.2 至 10 ns | 通过系统前部的线缆更改进行选择 标准宽度为 1.2、2.5 和 5 ns（其他可选） |
| 上升时间为 200 ps 至 2 ns | 通过可选的过滤器控制 标准上升时间为 200 和 300 ps 包括 2 ns 外部上升时间过滤器 | |
| 最 大脉冲电流 | 15 A 形成 50 ohm 负荷 约 30 A 形成短路 | |
| 最 大开路电压 | 1500 V |
赛默飞电子显微镜
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