赛默飞世尔扫描电子显微镜 Phenom particleX Steel Desktop SEM-赛默飞电子显微镜

详细信息

产品介绍：

钢铁制造业

钢制造领域的冶金学家和研究人员需要借助扫描电子显微镜 (SEM)和能量色散 X 射线谱仪 (EDS)的数据用于失效分析和工艺改进。 Thermo Scientific Phenom ParticleX Steel Desktop SEM 是一种多用途台式 SEM，能够对钢铁中的非金属夹杂物进行失效分析和自动表征。

钢铁夹杂物分析

这种用于钢样品高质量成像和元素分析的多功能解决方案提供了当今高效生产高质量钢铁所需的数据。快速、简单的分析使您能够快速响应客户对缺陷、故障等的索赔，自动化的钢铁夹杂物分析能够帮助您深入了解炼钢过程。

主要特点

占地面积小

Phenom ParticleX Steel Desktop SEM 仅需要标准壁式电源，无需更改基础设施即可扩展分析实验室的能力。集成的 EDS 使用户能够简单地通过单击来使用元素映射和线扫描，它可以在线图中显示量化的元素分布。

易于使用

用户界面基于成熟的易用技术Phenom Desktop SEM该界面使现有客户和新客户都可以通过最少的培训快速熟悉系统。独特的 CeB6光源的高亮度有助于捕捉高图像细节以及快速自动分析钢铁夹杂物。

行业专用软件

基于多年的钢夹杂物分析经验，默认的分类规则和分析配方使用户能够快速捕获有价值的数据。

面向未来

虽然您可使用默认分类规则和分析配方快速开始钢铁夹杂物分析，但分类方法和分析菜单是完全可定制的。这使您可以在更新的配方中获得新的见解

性能数据

电子光学放大率范围	160 - 200,000x
光学放大率	3–16x
分辨率	<10 nm
图像分辨率选项	960x600、1920x1200、3840x2400、7680x4800 像素
加速电压	默认: 5 kV、10 kV 和 15 kV 高级模式：可在 4.8 kV 至 20.5 kV范围内调节成像与分析模式
真空水平	低 - 中 - 高
检测器	背散射电子检测器（标配）能量色散型 X 射线光谱 (EDS) 检测器（标配）二级电子检测器（可选）
样品尺寸	最大 100x100 毫米（最大 36 x 12 毫米插针）最高 40 毫米（可选最高 65 毫米）
装载样品时间	光学 <5 秒电子光学 <60 秒

产品优势

台式 SEM 通过故障分析和工艺改进实现高质量钢制造。

技术资料

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赛默飞世尔 扫描电子显微镜 Phenom particleX Steel Desktop SEM

赛默飞世尔扫描电子显微镜 Phenom particleX Steel Desktop SEM