北京兰德梅克科技开发有限公司

薄膜测厚仪

2018-08-31795

资料简介：
一、数显薄膜测厚仪主要技术指标：测量范围：（0-25）mm分辨率：0.001mm电源：氧化银电池SR44工作温度：0℃～+40℃储运温度：-20～+70℃相对湿度：≤80%二、数显薄膜测厚仪主要功能：数据输出任意位置置零公英制转换自动断电具体资料请查看附件

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