| 一、用途 XPN-300偏光显微镜熔点仪、偏光温控仪是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校最常用的专业实验仪器。偏光显微镜可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。偏光显微镜配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件还可用于化工化纤、半导体工业以及药品检验等领域。偏光熔点测定仪采用微电脑检测，有自动P、I、D调节，及模糊手动调节功能，偏光熔点测定仪通过LED显示温度值及设定温度值。 |  | |
电脑偏光熔点测定仪 XPN-300EC | 数码偏光熔点测定仪 XPN-300ZD | |
| 二、系统简介 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
| 偏光显微镜熔点仪系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、的计算机图像处理技术wan美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
| 三、技术参数： | ||||||||||||||||||||||||||||||||
1.目镜：
2.物镜：
3.放大倍数：40X 100X 400X 600X 系统放大倍数：40X-2600X 4.聚光镜数值孔径：NA1.2/0.22 摇出式消色差聚光镜，中心可调 5.起偏镜：振动方向360°可调，带锁紧装置，可移动光路 6.检偏镜：可移出光路，旋转范围90°，内置勃氏镜，中心可调 7.补偿器：λ片（Ф18mm，一级红，光程差551nm） λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm） 石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ级） 8.调焦系统：带限位和调节松紧装置的同轴粗微动，微动格值 0.002mm 9.电光源：6V/20W 卤素灯（亮度可调） 10.防霉：特有的防霉系统 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
| 四、偏光熔点测定仪 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
| 1.偏光熔点测定仪 在 20X 物镜下工作温度可达到最高300 ℃ 、温度运行程序全自动控制；温度程序段由用户自行设定，30段温度编程，循环操作，能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度，及在该段内可维持时间，升温速率可调、精度±0.3 ℃、记忆点读数。 2.显微加热平台 可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1 起始温度室温 工作区加热使用面积至少1X1cm 工作区温度梯度不超过 ± 0.1oC 透光区域 2mm以上，可调 显示温度与实际温度误差不超过 ± 0.2 热台可以随载物台移动 熔点测定 温度超过100度时，25X的物镜工作距离太近，容易损坏镜头，请选用长工作距离的 20X、40X 物镜 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
| 五、系统组成 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
| 电脑型高精度偏光显微镜（XPN-300EC）： 1、显微镜 2、熔点仪 3、摄像器(CCD) 4、A/D(图像采集) 5、计算机 数码相机型高精度偏光显微镜（XPN-300ZD）：1、显微镜 2、熔点仪 3、数码相机 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
| 六、选购件 | ||||||||||||||||||||||||||||||||
| 1、高像素成像系统 2.偏光显微镜分析软件 3.物镜：20X | ||||||||||||||||||||||||||||||||
上海长方光学仪器有限公司
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