偏光热台显微镜XPN-400AE/Z

偏光热台显微镜XPN-400AE/Z详细技术参数

一、用途

  XPN-400A系列型透反射偏光显微镜是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校最常用的专业实验仪器。高精度偏光显微镜可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影。透反射偏光显微镜配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件还可用于化工化纤、半导体工业以及药品检验等领域。

二、系统简介

    透反射偏光显微镜系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、JD的计算机图像处理技术WM地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。

三、技术参数：

1.目镜：

2.物镜：

3.放大倍数：40X 100X 400X 600X

  系统放大倍数：40X-2600X

4.聚光镜数值孔径：NA1.2/0.22 摇出式消色差聚光镜，中心可调

5.起偏镜：振动方向360°可调，带锁紧装置，可移动光路

6.检偏镜：可移出光路，旋转范围90°，内置勃氏镜，中心可调

7.补偿器：λ片（Ф18mm，一级红，光程差551nm）

               λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm）

              石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ级）

8.调焦系统：带限位和调节松紧装置的同轴粗微动，微动格值 0.002mm

9.电光源：6V/20W 卤素灯（亮度可调）

10.防霉：特有的防霉系统

四、系统组成

  电脑型透反射偏光显微镜（XPN-400AE）： 1、显微镜 2、适配镜 3、摄像器(CCD) 4、A/D(图像采集) 5、计算机 

  数码相机型透反射偏光显微镜（XPN-400AZ）：1、显微镜 2、适配镜 3、数码相机

数码显微成像系统 电脑显微成像系统

五、选购件

     1、高像素成像系统      2.偏光显微镜分析软件      3.物镜：20X