青岛浩正科仪智能技术有限公司
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日立分析仪器台式X荧光镀层测厚仪X-Strata920

一、仪器名称:台式X荧光镀层测厚仪X-Strata920

二、仪器型号:X-Strata920

三、生产厂家:日立分析仪器

四、产地:德国

山东总代:青岛浩正科仪智能技术有限公司 hzzn-qd 15-2。53,20。13-71

五、仪器简单介绍

X-Strata920XRF ,镀层测厚仪,zui高jing确度,*少浪费

若不足一微米在您的镀层测量业务成败中举足轻重,则请选择X-Strata920。

您可选择比例计数器或硅漂移探测器(SDD),确保拥有正确配置。

如果您从事电子或金属表面处理,我们可提供适合您业务的解决方案。X-Strata920提供多种配置,可分析单层和多层镀层(包括合金层)。

我们的内部应用专家对X-Strata920进行了优化,确保您获得可靠、可重复结果以满足百种应用,包括:PCB表面处理、连接器镀层、耐腐蚀性处理、装饰表面处理、耐磨损处理和耐高温处理等。

山东总代:青岛浩正科仪智能技术有限公司 hzzn-qd 15-2。53,20。13-71

六、 仪器选型

半自动固定样品台:

Z轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴手动控制

样品台高度固定,测量zui大样品高度33mm

仪器外形尺寸(宽×深×高):407×770×305mm(不含电脑和显示器)

半自动加深样品台

Z轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴手动控制

样品仓抽屉式设计,4个位置上下可调,每格高度25.4mm

zui大样品高度160mm

样品仓内部尺寸(宽×深×高):279×508×152mm

仪器外形尺寸(宽×深×高):407×770×400mm(不含电脑和显示器)

自定义样品台:依据客户要求提供更高的样品台,满足高度大于160mm的样品测量,仓内抽屉式设计,多个位置上下可调,每格高度25.4mm

全自动样品台

Z轴自动控制,移动行程:43mm (1.7"),XY轴自动控制

可提供对样品的自动和编程控制,多点测量

鼠标控制样品台移动,jing确地定位样品测量点

测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式

样品台移动行程:178×178mm

样品台尺寸:宽610×深560mm

zui大样品高度33mm

仪器外形尺寸:宽610×深1037×高375mm(不含电脑和显示器)

多种型号规格的准直器

圆形0.2mm(8mil)

矩形0.05*0.05mm(2*2mil)

矩形0.05*0.25mm(2*10mil)

单准直器组件;

多准直器自动控制组件:*多可同时装配6种规格的准直器;

圆形、矩形多种规格尺寸任选(红色常用)

圆形  mil  4    6    8    12   13   20

mm   0.102    0.152    0.203    0.305    0.33 0.508

矩形  mil  1x2  2x2  0.5x10   1x10 2x10 4x16

mm   0.025x0.05    0.05x0.05 0.013x0.254   0.254x0.254   0.051x0.254     0.102x0.406

 

七、仪器特点

测量元素范围:钛Ti22---铀U92;

测量5层(4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X射线重叠谱线;

测量精度高、稳定性好,测量结果jing确至μin;

快速无损测量,测量时间短,10秒内得出测量结果;

可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析;

进行贵金属检测,如Au karat评价;

材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析;

强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图;

结果输出:直接打印或一键导出到PDF、Excel文件;报告包含数据、图像、统计图表、ke户信息等;

测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30倍;

激光对焦和自动对焦功能;单击鼠标,Z轴自动扫描,镭射聚焦;

拥有NIST认证的标准片;

提供服务及技术支持。

 

X-Strata920三步即可获得测量结果

1 将产品放置在样品台上

无损分析,无需样品制备

开槽式样品仓便于放置产品

chao大样品台便于大面积产品(如:PCB)测量

配备了门开闭传感器,增强了安全性

2 一键完成视频聚焦

一键自动镭射聚焦,避免人为操作误差

标配固定焦距12.7mm,选配变焦

高分辨率、高放大倍率的彩色数码影像装置,画面清晰、测试*准定位;放大倍数:30倍(标配),50倍(选配)

自动台:利用可编程XY样品台和Z轴实现单次或多次分析操作

简单快速的多点分析

3 一键完成测量

几秒内显示结果

保存、打印或传输结果

测试结果可一键导出PDF(标配)、Excel(选配)

使用预置和客户自定义的报告模板

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X-Strata920XRF ,镀层测厚仪,zui高jing确度,最少浪费
若不足一微米在您的镀层测量业务成败中举足轻重,则请选择X-Strata920。
您可选择比例计数器或硅漂移探测器(SDD),确保拥有正确配置。
如果您从事电子或金属表面处理,我们可提供适合您业务的解决方案。X-Strata920提供多种配置,可分析单层和多层镀层(包括合金层)。
我们的内部应用专家对X-Strata920进行了优化,确保您获得可靠、可重复结果以满足百种应用,包括:PCB表面处理、连接器镀层、耐腐蚀性处理、装饰表面处理、耐磨损处理和耐高温处理等。
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