北京达济科仪科技有限公司
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达济科仪支持膜铜网微栅硅膜DS11012纯硅膜

微栅硅膜

是在膜上制成边缘有层次的微米透孔,可以制作不同孔径,可消除支持膜背底对图像衬度与成分分析的影响。特点是耐受不同组分等离子体长时间清洗,可彻底清除电镜样品表面碳污染。适用于纳米线、纳米片、纳米团聚物等纳米材料的高分辨(S)TEM图像、EDS成分、EELS分析。一般选用200目载网,可以根据客户需求制作。

产品编号

产品名称

规格

载体

包装

DS11012

铜网微栅硅膜

200目

铜网

100枚/盒

DS11013

铜网微栅硅膜

300目

铜网

100枚/盒

DS10012F1

坐标铜网微栅硅膜

200目

200F1坐标铜网

100枚/盒

DS10013F1

坐标铜网微栅硅膜

300目

300F1坐标铜网

100枚/盒

DS11012M

钼网微栅硅膜

200目

钼网

100枚/盒

DS11013M

钼网微栅硅膜

300目

钼网

100枚/盒

DS11012N

镍网微栅硅膜

200目

镍网

100枚/盒

DS11013N

镍网微栅硅膜

300目

镍网

100枚/盒

DS10013Au

金网微栅硅膜

300目

金网

100枚/盒

 


是在膜上制成边缘有层次的微米透孔,可以制作不同孔径,可消除支持膜背底对图像衬度与成分分析的影响。特点是耐受不同组分等离子体长时间清洗,可彻底清除电镜样品表面碳污染。适用于纳米线、纳米片、纳米团聚物等纳米材料的高分辨(S)TEM图像、EDS成分、EELS分析。

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