硬件名称: | 电子产品ROHS检测仪 技术参数 |
探测器 | 美国Amptek X-55 Si-PIN探测器, l Be窗厚度:1mil l 晶体面积:25mm 2 l 信号处理系统:DP5 l ZJ分辨率:145eV |
高压电源 | l 输出电压:0~50kV l 灯丝电流:0~2mA l ZD功率:50W l 8小时稳定性:0.05% |
射线管 | l 输出电压:0~50kV l 灯丝电流:0~2mA l ZD功率:50W l 靶 材:Mo l Be窗厚度:0.2mm l 使用寿命:2万小时 |
准直器 | l 多种滤光片、准直器自动切换 l 光斑大小:Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm。可任选4种X射线光斑 |
样品仓大小 | l 样品仓大小可定制! 外形尺寸 :510mm×380mm×395mm(H) 样品仓尺寸 :360mm×330mm×80 mm(H) |
精密度(EC-681K) | Pb ≤ 5ppm,Hg ≤ 5ppm, Br ≤ 7ppm, Cr ≤ 6ppm, Cd ≤ 5ppm |
准确度(EC-681K) | Pb ≤ 7ppm,Hg ≤ 5ppm, Br ≤ 5ppm, Cr ≤ 3ppm, Cd ≤ 4ppm |
检出限 | 对聚合物材料:Pb ≤ 5ppm,Hg ≤ 5ppm, Br ≤ 5ppm, Cr ≤ 5
精分检测技术(济南)有限公司 仪器网(yiqi.com)--仪器行业网络宣传传媒 |