基恩士(中国)有限公司
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基恩士 形状测量激光显微系统 VK-X3000 系列

产品介绍:

搭载白光干涉功能
纳米/微米/毫米一台即可完成测量

超越激光显微镜的限制,以三重扫描方式应对

  • 一台即可测量纳米/ 微米/ 毫米

  • 一台即可了解希望获取的信息

  • 最 高分辨率0.01 nm


采用了三重扫描方式,运用激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理,高倍率和低倍率,平面、凹凸表面的细微粗糙度,以及镜面体,透明体等。VK拥有应对多种样品的测量能力(从 1 nm 到 50 mm),纳米/微米/毫米一台完成测量。


产品特性

Basic Characteristics

观察


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从光学显微镜到SEM领域一台设备涵盖

  • 42 至 28800 倍

  • 无需对焦

  • 适用于多种样品

测量


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非接触瞬间扫描形状

  • 不会损伤目标物

  • 纳米级别也可准确测量

  • 透明体和坡度大的目标物也可测量

分析


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希望了解的表面“差异”一目了然

  • 定量化微小形状

  • 轻松比较多个样品

  • 粗糙度分析


一台即可测量纳米/ 微米/ 毫米
一台即可了解希望获取的信息
Z高分辨率0.01 nm

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