产品介绍:
搭载白光干涉功能
纳米/微米/毫米一台即可完成测量
超越激光显微镜的限制,以三重扫描方式应对
一台即可测量纳米/ 微米/ 毫米
一台即可了解希望获取的信息
最 高分辨率0.01 nm
采用了三重扫描方式,运用激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理,高倍率和低倍率,平面、凹凸表面的细微粗糙度,以及镜面体,透明体等。VK拥有应对多种样品的测量能力(从 1 nm 到 50 mm),纳米/微米/毫米一台完成测量。
产品特性
Basic Characteristics
观察
从光学显微镜到SEM领域一台设备涵盖
42 至 28800 倍
无需对焦
适用于多种样品
测量
非接触瞬间扫描形状
不会损伤目标物
纳米级别也可准确测量
透明体和坡度大的目标物也可测量
分析
希望了解的表面“差异”一目了然
定量化微小形状
轻松比较多个样品
粗糙度分析
基恩士(中国)有限公司
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