布鲁克纳米分析部
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德国布鲁克 电子显微镜分析仪 QUANTAX ED-XS


产品介绍：

全
分析能力
涵盖超过 95% 的应用

e-Flash XS 和 XFlash 630M 探测器完全集成在 ESPRIT 软件套件下


低
初始投资成本
为紧凑型，低成本 SEM 设计的EBSD

e-Flash XS EBSD 探测器可安装在小仓室和价格实惠的 SEM 上，价格实惠合理


低
拥有成本
故障概率低，停机时间短
e-Flash XS 使用高性能 CMOS 摄像机。相机可靠性高，e-Flash XS 探测器可在几天内更换为现场设备。

简单的设备提供经济实惠的科学



QUANTAX ED-XS 是一款新产品包，结合了全新独特的 eFlash XS EBSD 探测器与多功能ESPRIT软件套件下坚固耐用的 XFlash® EDS 探测器。这种硬件和软件组合现在终于面向了显微镜圈子里更广大的用户，提供给用户更为强大的分析工具。以下是其优点：

  • 初始投资成本低很多

  • 停机时间非常低：在几天内更换现场探测器

  • 经济实惠的服务合同选项

  • 易于使用的 EBSD：无需校准并且用户可自行更换磷屏

  • 安全操作：不使用时，e-Flash XS 与SEM 仓室内的其它仪器发生意外碰撞的可能性为0%


为什么我需要在台式或钨灯丝电镜上使用 EBSD？



  • 半自动晶粒尺寸和形状分布

  • 使用子集功能对微观结构定量分析

  • 变形晶粒与再结晶晶粒的面积/体积分数

  • 晶界分析

  • 物相识别和分布分析

  • 化学和晶体学结果的相关性

  • 取向分布 + 晶体织构分析


您的分析挑战是什么？


不锈钢微结构特性的表征
原始金属和合金的机械性能通过各种热机械成型工艺进行控制，例如在室温或高温下进行轧制、锻造、挤出等。


晶粒统计与工业合金各种属性的相关性
EBSD技术最重要的优点之一是可以可靠地输出晶粒统计，例如平均直径大小和分布，这些信息可与材料的各种特性相关，例如硬度、强度、塑性/可塑性等。


物相识别和分布分析
QUANTAX ED-XS 是一个完全集成的 EDS 和 EBSD 系统，支持 EDS 或 EBSD 单独使用或同时涉及这两种技术的广泛分析类型。


简单的仪器提供经济实惠的科学
可靠且经济实惠的 EBSD
适配台式 SEM
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