德国布鲁克 电子显微镜分析仪器 SEM QUANTAX EDS

布鲁克的最 新一代 QUANTAX EDS  XFlash® 7 能谱探头具有最 大的采集立体角 ( Solid Angle) 和更高的输出计数率。

XFlash® 7 继续引领扫描电子显微镜 (SEM) 、聚焦离子束 (FIB-SEM) 和电子探针 (EPMA) 上能谱分析的性能与功能的标准。

XFlash® 7 探头还为 TEM 和 SEM 中可以透过电子的样品提供了优化的解决方案，此外，独特的 XFlash® FlatQUAD 为一些高难度样品提供了更好的解决办法。

Slim-line 技术，大立体角设计，最 新一代脉冲处理器，以及维护预警系统使系统运行时间达到最 大化。

更好的能量分辨率和采谱性能。

精致的定量算法，独特的有标样和无标样定量分析方法有效提高了分析结果的准确性。