产品亮点:
2nA
125,000Pps
具有无与伦比的空间分辨率的纳米材料取向分布图
QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器,是分析 SEM 中纳米材料的最 佳解决方案。原因如下:
提供 1.5 nm 的最 佳空间分辨率
在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试
在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的唯 一 TKD 解决方案
全自动内置 ARGUS 成像系统
为什么我需要同轴 TKD?
Ge-Sb-Te (GST) 薄膜样品的暗场像图片,我们感谢斯坦福大学Aaron Lindenberg组提供的样品和图像结果
实现最 佳空间分辨率
SEM 中获取取向分布图和物相分布图
用于快速测试,同时不影响数据质量/完整性
以令人难以置信的速度,通过全自动信号优化,以出色的对比度和分辨率拍摄 STEM 图像
可使用低电流分析束流敏感材料。
您的分析挑战是什么?
矿物学样品的高级物相识别
Microstructure characterisation of a microprocessor wire bonding with EBSD
镍基超合金微观结构的 EBSD 表征
布鲁克纳米分析部
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