简介:
镀层厚度测量在加工行业的表面处理环节中起着重要的作用,是确保产品达到优等质量的必要手段。镀层的厚度与生产成本密切相关,鉴于某些金属市场价格的波动,如果镀层太厚对于加工企业来说很容易造成损失。反之,镀层太薄则将无法达到性能指标或外观要求而造成返工或退货。基于X射线荧光(XRF)的镀层厚度测量是一种被广泛接受和被业界认可的分析技术。
参数:
激发源:陶瓷封装微焦点X射线管,银靶50KV
探测器:高性能Si-Pin探测器/SDD探测器(石墨烯窗口)
分辨率:140eV FWHM/129eV FWHM
滤光片:智能多位
窗口:kapton窗口片,可选碳纤维防扎窗口
准直器:5mm(可选3mm)
电池:7.2V锂离子,6800mAh
显示器:电容触摸式彩色显示屏(5寸)
CPU:i.MX 8M Mini四核1 .8GHz
多道处理器:4096像元多道分析器/80 MHz ADC数字信号处理器
数据储存:超10万条数据储存
数据传输:WiFi、USB
结构设计:独特的AXRUNI机构设计,有效增加光管散热
辐射与安全:Safety Guard 感应设置,无样品时光管自动关闭,提供安全保护
摄像头(选配):集成CCD微观摄像头,带自动聚焦透镜,用于定位和记录测点位置
分析元素:Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Hf、Ta、Re、Cu、Zn、W、Se、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Al、Pd、Ag、Sn、Sb、Pt、Au、Ru、Ir、Rh等
运行环境:温度:-10℃~50℃,湿度:相对湿度0%~80%(非冷凝)
仪器重量:1.5KG(含电池)
仪器尺寸:220mm*91mm*276mm(长*宽*高)
艾思睿科学仪器(杭州)有限公司
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