光斑质量分析系统（光斑分析仪）-西安立鼎光电科技有限公司

详细信息

BeamLeadingOEV1光斑质量分析系统

基于高性能铟镓砷机芯的特性，BeamLeadingOEV1光斑质量分析系统能够对0.4/0.9um~1.7um的激光光斑进行分析与研究。可对激光光斑的光斑大小、光斑形状、质心位置以及能量分布等参数进行全面的测试和分析。该产品采用GigE接口，配套专用显控软件，便于用户使用，并提供tcp通信接口与第三方软件进行交互，支持用户兼容开发。

产品特点	产品功能
①高灵敏度InGaAs焦平面探测器	①光斑直径测量
②光谱响应范围0.4/0.9um~1.7um	②高斯光斑直径输出
③自动/手动增益控制	③光斑能量集中度检测功能
④自动/手动曝光时间控制	④光斑X、Y轴能量曲线显示
⑤原始图像与伪彩色图像同步显示	⑤光斑质心位置和peak峰值位置显示
⑥结构紧凑易于集成	⑥光斑图像2D/3D显示

技术指标

探测器类型	铟镓砷FPA
光谱响应	0.4μm ~ 1.7μm		0.9μm ~ 1.7μm
分辨率	640 x 512	1280 x 1024	640 x 512	320 x 256
像元尺寸	5um		15um	30um
有效面积	3.2mm x 2.56mm	6.4mm x 5.12mm	9.6mm x 7.68mm
帧频	100Hz	60Hz	50Hz	200Hz
曝光时间	105us-3885us	30us-1/帧频	1us-1/帧频	10us-1/帧频
量子效率	>70%@（0.4um-1.6um）		＞70%@1550nm	＞70%@1550nm
制冷模式	非制冷/制冷可选		制冷	非制冷/制冷可选
快门模式	全局快门
数字输出	8Bit GigE
传输接口	RJ45@GigE
滤光片接口	C-mount
重量	≤160g		≤310g	≤170g
尺寸	≤45mmx45mmx65mm		≤75mm x 75mm x 75mm@制冷	≤50mm x 50mm x 57mm@非制冷

软件操作界面

主界面

2D/3D视图显示

X、Y轴能量曲线显示

结果统计显示

注：技术指标作产品介绍使用，仅供参考，以产品随机说明书为准，如有变更，恕不另行通知。

产品优势

基于高性能面阵短波红外相机所开发的光斑分析仪，含有专业的光斑分析软件。具有高精度和宽谱段的特点，可对激光光斑的光斑大小、光斑形状、质心位置以及能量分布等参数进行全面的测试和分析。