北京创宇星通科技有限公司
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Microchip 53100A相噪及频率稳定度测试仪


Microchip 53100A相位噪声分析仪

 

概述

53100A相位噪声分析仪可以测量高性能RF信号源的幅度、相位和频率稳定性。测试频率范围为1MHz到200MHz。53100A可以告诉您关于您被测设备的任何稳定性特性,时间刻度范围可以从飞秒到天。无论是单独使用还是集成到自动化测试系统中,小巧的外形和业界领先的测量速度使得51300A可以适用于大多数应用。

继承并扩展了3120A和51XXA系列仪器的优点,53100A可以以更低的成本来快速精确地测量SSB单边带相位噪声和ADEV阿伦方差。得益于改进地设计和制造工艺进步,53100A在可靠性和性能上有了巨大地提升。

特点

信号输入和参考输入,频率范围1MHz到200MHz

没有相位锁定和不需要测量校准

单或双参考振荡器输入允许互相关测量

TSC 51XXA命令和数据流仿真功能减少了重写现有测试脚本的负担

直观的图形界面使用户能够快速开始测量

测量

亚皮秒精度相位和频率差的实时带状图

频率计数精度每秒钟13位以上,可到17位

ADEV典型值<5E-15(1秒)

可以测量MDEV、HDEV、TDEV

相位噪声和幅度噪声偏移范围为0.001Hz到1MHz,水平典型小于-175dBc/Hz(10MHz载波)

时间抖动、残余FM调频和SSB载波/噪声比率

 

在Windows系统上使用高性能的基于电脑的DSP技术,所有这些测量都可以同时进行。您可以查看、保存、比较、打印和导出各种格式数据,包括TSC 51XXA兼容的。测量精度取决于用户提供的外部参考源,参考源频率为1MHz到200MHz,仪器本身不需要校准。

 

规格(25℃环境),除非备注其他温度

性能

频率范围

1到200MHz

ADEV

<7E-15 (1秒)

<2E-16(1000秒)

相位噪声规格

偏移频率范围:0.001Hz到1MHz

 

系统噪声平面

偏移

5MHz载波

100MHz载波

1Hz

-135

-120

10Hz

-145

-130

100Hz

-155

-145

1kHz

-165

-160

10kHz

-170

-170

>100kHz

-170

-170

Spurious (5到100MHz)

-100

-100

 

电气特性

输入信号电平:-5到+15dBm

输入阻抗:50欧姆

 

机械和环境规格

尺寸:13.5×8.5×3.6(344×215×91毫米)

功率:小于20瓦(90到264VAC)

操作温度:+15℃到35℃

存储温度:-20℃到50℃

重量:3.2kg(7英镑)

平均故障间隔时间:90000小时(在25℃)

符合:RoHS,CE,FCC

 

包含附件

USB2.0线缆,A(公)/B(公)

电源线

2个N(公)/BNC(母)同轴适配器

5个SMA(公)/SMA(公)同轴跳帽,1英寸(25.4毫米)

 

前面板

N(公)RF连接头:2个,连接被测信号和参考信号

SMA(母)RF连接头:4个,多通道扩展

LED:仪器状态指示

 

后面板

USB-B连接:电脑连接

SMA(母)RF连接头:3个,保留以备进一步使用

直流输入插座(2.1毫米):使用外部15V电源供电时用

 

订购信息

编号

描述

090-53100-000

53100A相位噪声测试仪

 

 软件

 

53100A软件随产品一起邮寄。在软件里可以设置各种测量配置/速度,更改显示设置,导入导出数据,运行脚本,设置通过/失败掩膜曲线等等。

 

 



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