Microchip 53100A相位噪声分析仪
概述
53100A相位噪声分析仪可以测量高性能RF信号源的幅度、相位和频率稳定性。测试频率范围为1MHz到200MHz。53100A可以告诉您关于您被测设备的任何稳定性特性,时间刻度范围可以从飞秒到天。无论是单独使用还是集成到自动化测试系统中,小巧的外形和业界领先的测量速度使得51300A可以适用于大多数应用。
继承并扩展了3120A和51XXA系列仪器的优点,53100A可以以更低的成本来快速精确地测量SSB单边带相位噪声和ADEV阿伦方差。得益于改进地设计和制造工艺进步,53100A在可靠性和性能上有了巨大地提升。
特点
信号输入和参考输入,频率范围1MHz到200MHz
没有相位锁定和不需要测量校准
单或双参考振荡器输入允许互相关测量
TSC 51XXA命令和数据流仿真功能减少了重写现有测试脚本的负担
直观的图形界面使用户能够快速开始测量
测量
亚皮秒精度相位和频率差的实时带状图
频率计数精度每秒钟13位以上,可到17位
ADEV典型值<5E-15(1秒)
可以测量MDEV、HDEV、TDEV
相位噪声和幅度噪声偏移范围为0.001Hz到1MHz,水平典型小于-175dBc/Hz(10MHz载波)
时间抖动、残余FM调频和SSB载波/噪声比率
在Windows系统上使用高性能的基于电脑的DSP技术,所有这些测量都可以同时进行。您可以查看、保存、比较、打印和导出各种格式数据,包括TSC 51XXA兼容的。测量精度取决于用户提供的外部参考源,参考源频率为1MHz到200MHz,仪器本身不需要校准。
规格(25℃环境),除非备注其他温度
性能
频率范围 | 1到200MHz |
ADEV | <7E-15 (1秒) <2E-16(1000秒) |
相位噪声规格
偏移频率范围:0.001Hz到1MHz
系统噪声平面
偏移 | 5MHz载波 | 100MHz载波 |
1Hz | -135 | -120 |
10Hz | -145 | -130 |
100Hz | -155 | -145 |
1kHz | -165 | -160 |
10kHz | -170 | -170 |
>100kHz | -170 | -170 |
Spurious (5到100MHz) | -100 | -100 |
电气特性
输入信号电平:-5到+15dBm
输入阻抗:50欧姆
机械和环境规格
尺寸:13.5×8.5×3.6(344×215×91毫米)
功率:小于20瓦(90到264VAC)
操作温度:+15℃到35℃
存储温度:-20℃到50℃
重量:3.2kg(7英镑)
平均故障间隔时间:90000小时(在25℃)
符合:RoHS,CE,FCC
包含附件
USB2.0线缆,A(公)/B(公)
电源线
2个N(公)/BNC(母)同轴适配器
5个SMA(公)/SMA(公)同轴跳帽,1英寸(25.4毫米)
前面板
N(公)RF连接头:2个,连接被测信号和参考信号
SMA(母)RF连接头:4个,多通道扩展
LED:仪器状态指示
后面板
USB-B连接:电脑连接
SMA(母)RF连接头:3个,保留以备进一步使用
直流输入插座(2.1毫米):使用外部15V电源供电时用
订购信息
编号 | 描述 |
090-53100-000 | 53100A相位噪声测试仪 |
软件
53100A软件随产品一起邮寄。在软件里可以设置各种测量配置/速度,更改显示设置,导入导出数据,运行脚本,设置通过/失败掩膜曲线等等。
北京创宇星通科技有限公司
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