Agilent4156C/安捷伦4156C半导体参数分析仪

Agilent 4155C 半导体参数分析仪是用于高级器件表征的精确实验室台式解决方案。Agilent 41501B 扩展

器将您的功能扩展到 1A/200V，并在 Agilent 4155C 上添加了一个低噪声接地单元和双脉冲发生器。

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一般特性：

用于先进器件表征的高精度实验室用台式参数分析仪

4x 高分辨率 SMU、2xVSU 和 2xVMU

填空式前面板操作

包括 Desktop EasyEXPERT 软件，可在 PC 上通过 GUI 对仪器进行控制

测量能力：

1 fA 和 0.2 mV 测量分辨率

QSCV、强化测试模式、旋钮扫描和待机功能

可选的 41501B 可提供 +/- 200 V 和 +/- 1 A 大功率 SMU、脉冲发生器功能

Desktop EasyEXPERT 软件：

提供直观的、面向任务的参数测试方法

配有 80 多个预定义、用户可修改的应用测试

自动将数据保存到硬盘或任何网络硬盘

通过 Desktop EasyEXPERT 软件进行离线数据分析和应用测试开发