用途：Apogee新的DLI-400测量仪设计用于测量400-700纳米的光合有效辐射（PAR），是一种低成本的选择，只在阳光和一些宽带光源下准确。可以应用测量后的修正系数来提高光源下的准确性；除了测量PAR，DLI-400测量仪还可以计算每日光积分（DLI）和光周期。
DLI-400测量仪有两种不同的屏幕模式：存储数据和实时查看数据。在存储数据屏幕中，它显示DLI测量值、光照时间和哪一天收集的数据（最多99天以前）。实时查看数据屏幕显示过去2.5秒内PPFD的运行平均值。
技术参数：
测量重复性 | 小于 0.5 % |
测量范围 | 0 至 4000 µmol mˉ² sˉ¹ |
长期漂移 | 每年少于 2% |
视野 | 180° |
光谱测量范围 | (± 5 nm)370 至 650 nm（仅限阳光） |
余弦响应 | ± 5 % 在 75˚ 天顶角 |
响应时间 | 2.5 秒 |
测量频率 | 3分钟 |
数据记录容量 | 99 天（DLI 和光周期），10 天（30 分钟 PPFD/ePPFD 平均值） |
非线性 | 小于 1 %（最高 4000 µmol mˉ² sˉ¹） |
存储数据分辨率 (PPFD) | 0.1 µmol mˉ² sˉ¹（≥1000时屏幕不显示小数） |
存储数据分辨率 (DLI) | 0.1 mol mˉ² 天ˉ¹ |
存储数据分辨率（光周期） | 0.1小时 |
连接性 | Type--C 数据传输的 CSV 文件 |
ADC 分辨率 | 24 位 |
操作环境 | -10 至 60 ℃；0 至 100 % 相对湿度 |
电池寿命 | 6个月 |
重量 | 67g |
云生科技(北京)有限公司
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