案例分析｜Sensofar共聚焦白光干涉仪用于医用植入体制造和控制
点击蓝字
关注我们
用于医用植入体制造和控制
医用植入体的制造过程需要非常高水平的质量控制，尤其是当零部件将被长期植入脊柱区域时（如图 1 所示）。检查过的零件呈现出来源不明确的不均匀标记，只有在最终目视检查中才会被发现。目视检查的可接受性标准通常依赖于人眼的解读，并且在客户规格中缺乏充分的描述，而这可能导致零件合规性方面发生冲突。
如果造成缺陷的因素中涉及到机械加工，则可以定期进行粗糙度分析，以帮助评估标记。但是，接触式触针 2D 轮廓仪在这种复杂的成品钛零件上留下的标记会造成不易被接受的缺陷。因此，我们选择了非接触式光学表面轮廓仪检查来识别缺陷来源，测量旨在避免这种缺陷的制造变更的效率，并为不合格品设定定量阈值。
图 1.医用植入体（左）顶视图。放大显示缺陷 (“条纹”) 的区域
在研究了每种技术的最佳采集设置之后，我们发现连续共聚焦模式（放大 20 倍）和 3 个视场的扩展测量是最适合该研究的设置。
图 2 显示了两个形貌图，一个具有缺陷（不合规），另一个没有缺陷（合规）。第一个形貌图显示很少的垂直“条纹”，这在合规表面中并不明显。
图 2.不合规表面形貌（顶部）顶视图和合规表面形貌（底部）。
图 3 显示提取自两个形貌图的 2D 轮廓。可以看出，不合规形貌显示出强烈的波度分量，这在合规表面中并不明显。重复测量并使用 SensoMAP 软件进行彻底分析，以识别与视觉检查结果相关的最可靠参数；还可以使用 SensoMAP 从 Abbot-Firestone 曲线轻松计算出区域材料比例及其逆数等参数（图 4）。
图 3.不合规 2D 轮廓（顶部）顶视图和合规 2D 轮廓（底部）。红线代表合规性的任意阈值
图 4.在不合规（左）和合规表面（右）中，Abbot-Firestone 曲线以红色显示。它是表面轮廓高度的累积概率密度函数，可以通过积分轮廓轨迹来进行计算
3D 光学轮廓仪 S neox 使加工专家能够识别出导致缺陷的刀具，以及在批量生产过程中跟踪其磨损情况，从而控制制造过程并改善其结果特别是，共聚焦技术已被证明是定性和定量研究表面缺陷的有效技术。
对合规和不合规零件的扩展分析显示，常见的表面参数（如 Sa 或 Sz）不足以准确地捕捉外观缺陷。功能参数被认定是最可靠的标准，让控制器能够在需要时毫无疑虑地区分不合规零件。
此外，进一步的研究可能会考虑使用更先进的工具，例如 S neox Five Axis，该工具可以对植入体的完整形状进行 3D 重建，这对于进一步研究中的磨损分析、CAD 比较和/或质量控制可能有所助益。
西班牙Sensofar品牌简介
Sensofar是西班牙的一家高新技术公司，成立于2001年，总部位于西班牙科技中心巴塞罗那附近的塔拉萨(Terrassa)。公司通过战略合作伙伴构成全球网络，在超过20 个国家设有代表处，始终遵循先进的技术、卓越的质量和优质客户服务的宗旨。
Sensofar公司专注于研发非接触式3D光学表面测量技术，致力于开发、制造和供应高端3D测量工具，并提供3D测量技术领域内的咨询服务。Sensofar持续不断地研发和申请表面测量专利技术，在全球范围内创造了数百种表面形貌测量应用产品。在高精度3D光学测量技术方面，拥有深厚的技术实力。
★
往期回顾：
案例分析｜Sensofar共聚焦白光干涉仪用于CMP中垫面光泽监测及3D测量
案例分析｜Sensofar共聚焦白光干涉仪用于表征增材制造中的工艺诱导形状和表面纹理变化
关于我们
，专注微观形貌分析！
代理西班牙Sensofar三维共聚焦白光干涉仪、泽攸科技台式电镜/台阶仪/原位分析、德国Leica及国产各类型光学显微镜、美国RMC超薄及半薄切片机、英国Linkam冷热台、德国Zeiss扫描电镜、丹麦司特尔金相制样、阴极发光台、防震平台等材料制备及微观分析仪器。
致力于为材料用户提供准确、可靠且全面的毫米级、微米级、纳米级微观形貌分析仪器和解决方案！
让科学研究和技术创新更便捷、更高效！
长按识别二维码，关注我们，获取更多资讯！
咨询电话：010-56443878
网址：www..com
期待你的
分享
点赞
在看
全部评论(0条)
推荐阅读
-
- 案例分析｜Sensofar共聚焦白光干涉仪用于医用植入体制造和控制
- 用于医用植入体制造和控制
-
- Sensofar共聚焦白光干涉仪 | 用于医用植入和控制
- 医用植入体的制造过程需要非常高水平的质量控制，尤其是当零部件将被长期植入脊柱区域时（如图 1 所示）。检查过的零件呈现出来源不明确的不均匀标记，只有在最终目视检查中才会被发现。
-
- 案例分享 | Sensofar共聚焦白光干涉仪用于薄膜晶体管技术
- 案例分享 | Sensofar共聚焦白光干涉仪用于薄膜晶体管技术
-
- 案例分享|Sensofar共聚焦白光干涉仪|用于集成电路封装
- 最受欢迎的集成电路封装类型之一是QFN（Quad-flat No Lead, 四扁平无引线）封装，因为它能够满足包含消费电子、汽车以及高功率产品等在内的众多不同应用中的需求。引脚的平整度是一个重要的待评估的元素。
-
- Sensofar共聚焦白光干涉仪用于薄膜晶体管技术
- 有一种制造LCD（液晶显示器）的方法，该方法提高了显示器的对比度和响应速度。它被称为TFT（薄膜晶体管）技术。TFT是通过光刻技术制造的，了解每一层的高度至关重要。
-
- Sensofar共聚焦白光干涉仪用于集成电路封装
- *受欢*的集成电路封装类型之一是QFN（Quad-flat No Lead, 四扁平无引线）封装，因为它能够满足包含消费电子、汽车以及高功率产品等在内的众多不同应用中的需求。
-
- Sensofar共聚焦白光干涉仪 | 共聚焦技术
- 共聚焦轮廓仪专为测量光滑表面到极粗糙表面而开发。共聚焦轮廓提供更佳的横向分辨率，可达 0.15μm 线条和空间，空间采样可减少到 0.01μm，这是关键尺寸测量的理想选择。
-
- 案例分析|Sensofar共聚焦白光干涉仪用于激光雕刻钢材嵌件的尺寸分析
- 利用Sensofar S wide，我们能够一次性测量所有的几何形状，并确认所有内容均在所需的参数范围内。
-
- Sensofar共聚焦白光干涉仪 | 白光干涉技术
- Sensofar共聚焦白光干涉仪为了测量非常光滑的表面到中等粗糙表面的表面高度，开发了干涉技术，可在任何放大倍率下实现相同的系统噪声。对于 PSI，它可实现优于 0.01 nm 的系统噪声。
-
- 案例分析 | Sensofar共聚焦白光干涉仪用于膜光子晶体器件的无损表征
- Sneox 可提供最多 4 种不同光源（红光、绿光、蓝光和白光），这对本研究中尤其重要
-
- 案例分享|Sensofar共聚焦白光干涉仪|对用于后端封装环节
- Sensofar共聚焦白光干涉仪|对用于后端封装环节
-
- Sensofar共聚焦白光干涉仪测量原理
- 虽然一开始作为高性能 3D 光学轮廓仪设计，但是我们的某些系统胜过所有现有的光学轮廓仪，集所有技术于一身。
-
- 案例分享|Sensofar共聚焦白光干涉仪|对印刷电路板的分析
- 案例分享|Sensofar共聚焦白光干涉仪|对印刷电路板的分析
①本文由仪器网入驻的作者或注册的会员撰写并发布，观点仅代表作者本人，不代表仪器网立场。若内容侵犯到您的合法权益，请及时告诉,我们立即通知作者，并马上删除。
②凡本网注明"来源：仪器网"的所有作品，版权均属于仪器网，转载时须经本网同意，并请注明仪器网(www.yiqi.com)。
③本网转载并注明来源的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品来源，并自负版权等法律责任。
④若本站内容侵犯到您的合法权益，请及时告诉,我们马上修改或删除。邮箱：hezou_yiqi
苏州卡斯图电子有限公司
沪公网安备 31011502008050号
参与评论
登录后参与评论