一六仪器 XAU-4CS 专精多功能 X 荧光光谱分析仪

XAU-4CS 是一款一机多用型光谱仪，应用了先进的 EFP 算法和微光聚集技术，既保留了 专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能，又可满足成分分析。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

1)  搭载微聚焦加强型 X 射线发生器和先进的光路转换聚焦系统，zui小测量面积达 0.03mm2

2)  拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽 深度范围 0-30mm

3)  核心 EFP 算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数 据分析(钕铁硼磁铁上 Ni/Cu/Ni/FeNdB，精准检测第一层 Ni 和第三层 Ni 的厚度)

4)  配备高精密微型移动滑轨，可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测 

5) 装配 DPP+FAST SDD，分辨率更高，测试速度更快，数据更加稳定 

6) 涂镀层分析范围:锂 Li(3)- 铀 U(92)

7)  成分分析范围:铝 Al(13)- 铀 U(92)

8)  RoHS、卤素有害元素检测 

9) 人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作 

10) 标配 4 准直器自动切换 

11) 配有微光聚集技术，zui近测距光斑扩散度小于 10%