XAFS/XES 设备特点
- 无需同步辐射光源
- 科研级别谱图效果
- 台式设计,实验室内使用
- 可外接仪器设备,控制样品条件
- 可实现多个样品或多种条件测试
- 操作便捷、维护成本低
台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XES
美国easyXAFS公司推出台式X射线吸收精细结构谱仪,采用独有的X射线单色器设计,无需同步辐射光源,在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析,以超高灵敏度和光源质量,实现对元素的测定、价态和配位结构分析等。此外,该设备还能够进行X射线发射谱测试(XES),该表征本质上是超高能量分辨率的X射线荧光光谱(high-resolution XRF)。XAFS和XES可以对样品的局部电子结构实现信息互补。广泛应用于电池、催化剂、环境、放射性化学、地质、陶瓷等研究领域。
XAFS/XES 设备特点
- 无需同步辐射光源
- 科研级别谱图效果
- 台式设计,实验室内使用
- 可外接仪器设备,控制样品条件
- 可实现多个样品或多种条件测试
- 操作便捷、维护成本低
XAFS/XES 设备参数
X射线源:
XAFS: 1.2-kW XRD(Mo/Ag)
XES: 100W XRF 空冷管(Pd/W)
能量范围:4.9-20.5keV
分辨率:0.5-1.5eV
样品塔:8位自动样品轮
布拉格角:55-85 deg
XES150
低功率版,采用固定光源模式,采用100W 功率X射线管作为X射线光源,具备与同步辐射装置相媲美的硬X射线发射光谱(XES)功能,和透射X射线吸收谱(XAFS)功能。光学系统模块化,能量范围功率可调。
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