蔡司Xradia Context MicroCT 业内先进的MicroCT平台
蔡司Xradia Context®微型计算机断层扫描(microCT)系统易于使用,适用于分析各种类型的样品。即使在成像体积较大的情况下,高阵列探测器也能实现精细结构的高分辨率。该系统具有大观察视野、快速的样品安装和对齐、简化的采集工作流以及快速曝光和数据重构的特点。
获取整个电子元件、大材料样品或生物样品的三维数据
执行无损失效分析,以识别内部缺陷,无需切割样品或工件
表征和量化决定性能的地质样品中的异质性,如孔隙率、裂纹、夹杂物、缺陷或多相
通过非原位处理或原位样品操作,进行四维演变研究
连接至蔡司关联显微镜环境并进行无损三维成像,以识别感兴趣区域,用于后续分析
全景三维成像
Xradia Context为您提供出色的图像质量、稳定性和易用性,且具备高效的工作流环境和高通量的扫描
使用600万像素的高像素密度探测器,即使对于较大的成像体积,也可在三维全景下分辨精细结构
无损三维显示深埋结构,用于进行过程分析、结构分析和失效分析
小样品以大倍率几何放大时仍具有高衬度和高清晰度,可识别和表征微米级结构
充分利用简化的采集工作流、快速曝光和数据重构的优势
完整的催化转化器内部的虚拟剖视图
基于久经考验的Xradia平台
Xradia Context microCT基于与Xradia Versa系列相同的平台,多年的研发和久经考验的稳定性将为您带来极大优势
从旨在推进高分辨率、高质量数据采集和重构的系统中获益
操作简便的定位和扫描(Scout-and-Scan)控制系统为您提供高效的工作流环境
借助可选配的Autoloader快速安装和对齐样品或扩展系统,实现多达14个样品的自动操控和顺序扫描
使用原位套件,进行四维和原位研究,以测定不同条件下材料微观结构的变化
配备高级重构工具箱,实现更快的处理速度和出色的图像质量
可转换为Xradia Versa显微镜(XRM)
随着您成像需求的不断提高,您的设备也要不断提升。Xradia Context已加入蔡司X射线成像产品组合,您将从蔡司持续致力于在该领域扩展系统能力和功能的承诺中受益。
这为能够随时根据需求扩展三维断层扫描成像打开了大门:您的Xradia Context microCT可随时转换为CrystalCT或5XX平台,直至蔡司Xradia 620 Versa三维X射线显微镜(XRM)。
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