布鲁克 XRD D8 ADVANCE Plus X射线衍射仪

D8 ADVANCE Plus：具有zui大的灵活性，为您带来前所未有的易用性

D8 ADVANCE Plus是D8 ADVANCE的又一版本，是面向多用途、多用户实验室的X射线平台。它可理想地满足您对所有样品类型的需求，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）：

• 典型的X射线粉末衍射（XRD）

• 对分布函数（PDF）分析

• 小角X射线散射（SAXS）和广角X射线散射（WAXS）

• X射线反射率（XRR)和高分辨XRD（摇摆曲线，倒易空间扫描）环境条件下和非环境条件下

该系统的一大优势在于它能够在多达6种不同的光束几何之间进行切换：从用于粉末的Bragg-Brentano聚焦几何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何以及两者之间的切换。您只需按下按钮，整个软件尽在掌握。

无论您使用的样品类型和想要何种应用，无论您是新手用户还是专家用户，皆适用于此：D8 ADVANCE Plus具有无与伦比的灵活性和易用性，在数据质量方面，树立全新基准。 

TRIO光路简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统提供了自动化电动切换功能，可在多达6种不同的光束几何之间进行自动切换。系统无需人工干预，即可在三个光路之间切换：

• 用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦几何

• 用于毛细管、GID和XRR的高强度平行光束Kα1,2几何

• 用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何

它非常适合在环境条件或非环境条件下对所有样品类型进行分析，其中包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）。

D8 ADVANCE PLUS 主要功能

材料研究样品台

紧凑型UMC和紧凑型尤拉环plus样品台能够精确地移动样品，因此扩展了D8 ADVANCE Plus的样品处理能力。紧凑型UMC样品台可对2Kg的样品进行电动移动：X轴25mm、Y轴70mm和Z轴52mm，可用于分析大型块状样品或多个小样品；紧凑型尤拉环plus样品台的Phi旋转角度不受限制，Psi倾斜度在-5°到95°之间，可用于应力、织构和外延薄膜分析。另外，它还具有真空多用途通孔，可通过小型薄膜样品架或大型手动X-Y样品台，将样品固定在适当位置。二者均可用于温控样品台，进行非环境分析。另外，它们还可借助DIFFRAC.DAVINCI样品台卡口安装系统，轻松更换样品台。

X射线粉末衍射（XRPD）技术是zui重要的材料表征工具之一。粉末衍射图中的许多信息，直接源于物相的原子排列。在D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件的支持下，您将能简单地实施常见的XRPD方法：

• 鉴别晶相和非晶相，并测定样品纯度

• 对多相混合物的晶相和非晶相进行定量分析

• 微观结构分析（微晶尺寸、微应变、无序…）

• 热处理或加工制造组件产生的大量残余应力

• 织构（择优取向）分析

• 指标化、从头晶体结构测定和晶体结构精修