德国德尔DUERR NDT
德国德尔DUERR NDT CR射线数码成像板扫描系统产品介绍:
产品型号:HD-CR系列
产品品牌:德国德尔DUERR NDT
产品类别:扫描系统
产品备注:射线数码成像板扫描系统
德国德尔DUERR NDT CR射线数码成像板扫描系统产品概述:
提供了传统的X射线胶片的数字替代物,实际的应用上,是节省了…底片、洗片机、化学液体、暗房、观片灯,只要一台计算机,配合图像软件,通过简易的步骤就能够取得高分辨率的图像,而且也大大的减少了成像时间,形成了巨大的优势,也是近期NDT无损检测行业的ZD产品之一。
UERR NDT CR技术及认可
是世界上DY家发展12.5μm激光点扫描器的公司,与相应的高分辨率的荧光物质存贮器成像板,它符合EN 14784和ASTM 2446的所有严格的要求,高分辨率成像板和HD-CR装置结合达到一家CR制造厂可达到的40μm空间分辨率,覆盖DUERR NDT公司的两个型号,包括HD-CR35及HD-CR43。
DUERR NDT公司也获得德国有名的BAM证书,也符合ISO 9001、EN和ASTM标准。
CR技术由3个步骤组成
*成像板(IP板)通过X射线或γ射线曝光,曝光引起IP板里的含磷层存贮X射线图象;
* 在数码成像板扫描仪上阅读,期间,聚焦激光束引发存贮的X射线图象数据以可视光的形态释放;
发射出的光可采集,通过光电倍增管,转换成数字化的电信号,ZH以数字图象显示在联机计算机的监视器上;同时,在设备内部的擦除器可直接清除IP板的残留数据,这样就准备好可以进行下次的曝光。
优点﹕
*数码胶片可多次重复使用
*不需进行传统的药水洗片,如显影、定影等步骤,也不需暗室,大大降底材料及人工成本
*不间断地自动进行扫描多张数码胶片,可自动保存图像
*能进行图像处理,如加上编号、缺陷说明等等…
*全自动计算机判别缺陷功能,包括缺陷大小、相对检测标准的级别等强大的软件功能
*可提供不同尺寸的高柔软性数码胶片(HD-CR35及CR35)
*数码图像可保存,可省却储存传统底片的空间及其房间的特殊环保条件
德国德尔DUERR NDT CR射线数码成像板扫描系统产品技术参数:
技术数据 | 数码成像板扫描仪 | HD-CR 35 NDT | CR 35 NDT | HD-CR 43 NDT | CR 43 NDT |
BSR (空间分辨率) | 取决于成像板 (通过BAM鉴定) | 40μm | 100μm | 40μm | 100μm |
激光 | 焦点在成像板表面 | 12.5, 25, 50μm | 50μm | 12.5 μm | 50 μm |
尺寸 | (高×宽×深)cm | 40×37×47cm | 40×37×47cm | 113×41×46cm | 113×41×46cm |
重量 | 不包括运输箱 | 17.5kg | 17.5kg | 56kg | 56kg |
电源 | 100-240V / 50-60Hz | 140W | 140W | 250W | 250W |
灰度分辨率 | 16位,65.536灰度级 | ● | ● | ● | ● |
ZD成像板尺寸 | 35cm宽,长度不限 | ● | ● | ● | ● |
存贮温度 | -20℃ 到60℃ | ● | ● | ● | ● |
工作温度 | 10℃ – 35℃ | ● | ● | ● | ● |
噪声水平 | < 49dB(A) | < 49dB(A) | < 39dB(A) | < 39dB(A) | |
PC连接 | 连接方式 | USB 2.0 | USB 2.0 | 太网(TCP-IP协议) | 太网(TCP-IP协议) |
激光等级 | I(EN60825.1) | ● | ● | ● | ● |
软件 | DURR NDT D-Tect | ● | ● | ● | ● |
附件 | 运输箱、电池可选、成象板等 | ● | ● | ● | ● |
德国德尔DUERR NDT CR射线数码成像板扫描系统产品应用:
D-TECT 图像处理系统
由DUERR公司自行开发,适应用户的需求而不断的完善,使用快捷方便,功能全面,现已成为非常成熟的软件。
动态范围极广
在厚度差异较大及复杂的铸件,能够在一次的曝光后,通过软件的处理,清楚分辨出缺陷分别在较薄及较厚的位置,能节省多次曝光的时间。
直方图均值化
在直方图里灰度值的均值化可同时对不同密度材料进行光学评估。
高对比度滤波器
滤波器允许ZY化图像对比率。
原始数据会无变化的保留。
精细结构滤波器
精细结构滤波器对焊缝检测十分有利。小的缺陷容易被放大,对比变成ZY化。原始图像数据被保存。
手动测量
内部杂质或裂纹的尺寸可通过使用手动工具确定。
自动壁厚测量
由于可使用任意选择的测量工具测量壁厚,确定壁厚就变得非常简单和快速。
不管是手动校准数据的输入还是曝光参数已经记录,测量工具都能兼顾到,都可作为X射线照相技术的要求。
北京帕利亚纳科贸有限公司
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