JEOL JEM-2800 高通量场发射透射电子显微镜

JEM-2800是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品，在兼顾高分辨高稳定性的同时，最求分析效率的最大化和操作的自动化。颠覆传统的电镜外观设计，除了让人耳目一新外，还对设置环境更具抗干扰能力。

  主要技术指标：

  1.  点分辨率：0.21nm；

  2.  晶格分辨率：0.1nm;

  3.  STEM 分辨率：0.16nm；

  4.  二次电子分辨率：0.5nm；

  5.  能谱：可以安装两个超级能谱

  6. 洛伦兹模式：标配