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布鲁克Bruker 三维光学轮廓仪ContourX-100

具备最高性价比的 ContourX-100 光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。该系统占地面积小,所采用的简化方案融合了布鲁克几十年的专利白光干涉(WLI)创新技术,具有强大的二维/三维高分辨测量能力。新一代增强功能包括全新的 5MP 摄像头和更新平台,实现更多缝合功能,并新增一个测量模式 USI,提升了精加工表面、厚膜和摩擦学应用测量时的便捷性和灵活性。ContourX-100 堪称性价比最高的台式系统。

具备Z高性价比的 ContourX-100 光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。该系统占地面积小,所采用的简化方案融合了布鲁克几十年的专利白光干涉(WLI)创新技术,具有强大的二维/三维高分辨测量能力。新一代增强功能包括全新的 5MP 摄像头和更新平台,实现更多缝合功能,并新增一个测量模式 USI,提升了精加工表面、厚膜和摩擦学应用测量时的便捷性和灵活性。ContourX-100 堪称性价比Z高的台式系统。
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