布鲁克Bruker 三维光学轮廓仪ContourX-100

具备Z高性价比的 ContourX-100 光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。该系统占地面积小，所采用的简化方案融合了布鲁克几十年的专利白光干涉（WLI）创新技术，具有强大的二维/三维高分辨测量能力。新一代增强功能包括全新的 5MP 摄像头和更新平台，实现更多缝合功能，并新增一个测量模式 USI，提升了精加工表面、厚膜和摩擦学应用测量时的便捷性和灵活性。ContourX-100 堪称性价比Z高的台式系统。