显微缺陷膜厚产品列表
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- OPTM 系列显微分光膜厚仪
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 高速相位差测量装置 RE-200
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 高速LED光学特性仪 LE series
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 高灵敏度近红外量子效率测量系统 QE-5000 New
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 高感度分光辐射亮度计 HS-1000
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 量子效率测量系统 QE-2100
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 膜厚量测仪 FE-300
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 线扫描膜厚仪【离线型】
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 线扫描膜厚仪【在线型】
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 紫外分光配光测量系统
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 紫外分光辐射照度测量系统 New
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 紫外分光全光谱光通量测量系统
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 液晶层间隙量测设备 RETS series
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 椭偏仪 FE-5000/5000S
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 总光谱光通量测量系统 HM/FM series
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 多样品纳米粒子径测试系统·nanoSAQLA
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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