半导体材料测试产品列表
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- SIRM红外体微缺陷分析仪
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- LST体微缺陷测试设备
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 非接触迁移率测试系统
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 非接触方块电阻测试系统
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 非接触Hall和方块电阻测试系统
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- SRP 扩展电阻测试
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 准稳态-光致发光测试设备
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 光致发光检测设备
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- PV-2000A 光伏多功能扫描系统
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 汞探针测试
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 汞CV测试系统
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- CV-1500非接触CV测试系统
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 纳米压痕测试设备
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 拉曼光谱分析
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 扫描显微技术
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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- 反射谱成像技术
- 品牌：上海波铭
- 型号：
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