主要技术指标
| 微区光谱探测范围 | 400-1500nm |
| 检测模式 | 透射/反射/微区/成像 |
| ZG空间分辨率 | 500nm |
| ZG时间分辨率 | 1.5倍激光脉宽 |
| 时间窗口 | 8ns |
| 成像波段范围 | 400-800nm |
| 成像像素点 | 640×480 |
| 零点前信噪比 | ≤0.2mOD |
| 设备拓展性 | 可拓展常规样品室，实现380-1650nm瞬态吸收光谱测试 可与低温恒温器、探针台、电学调控装置和外部磁体耦合 |
| 应用实例1 – 微区透射测试 | |||
| 实验条件 | |||
| 激发光波长 | 515nm | 扫描延迟时间点数 | 159 |
| 物镜倍数 | 50X | 扫描次数 | 3次 |
| 每点积分时间 | 1.2s | 总测试时间 | 9min45s |
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| 应用实例2 – 微区反射测试 | |||
| 实验条件 | |||
| 激发光波长 | 515nm | 扫描延迟时间点数 | 59 |
| 物镜倍数 | 50X | 扫描次数 | 3次 |
| 每点积分时间 | 1.2s | 总测试时间 | 9min45s |
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| 应用实例3 – 宽场TA成像 | |||
| 实验条件 | |||
| 激发光波长 | 515nm | 采集频率 | 1K赫兹 |
| 探测光波长 | 660nm | 单幅照片积分时间 | 1s |
| 样品名称 | 单层WS2(基底:蓝宝石) | 扫描点数 | 159 |
| 物镜倍数 | 50X | 扫描次数 | 5次 |
| 探测尺寸 | 30X45微米 | 总测试时间 | 16min |
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| 应用实例4-载流子扩散成像 | |||
| 实验条件 | |||
| 激发光波长 | 400nm | 单幅照片积分时间 | 6 s |
| 探测光波长 | 650nm | 扫描点数 | 109 |
| 样品名称 | Bi202Se单晶 | 扫描次数 | 1次 |
| 物镜倍数 | 50X | 总测试时间 | 11min |
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